(DE) Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Überprüfen und Umdrehen elektronischer Bauelemente, insbesondere Flipchips, mit einem an einem Drehpunkt (17) drehbar gelagerten Bauteil (14) zum Umdrehen der elektronischen Bauelemente, wobei an dem Bauteil (14) außenseitig ein erstes Aufnahmeelement (19) zum Aufnehmen eines einzelnen elektronischen Bauelementes von einem Träger (14) und dessen Festhalten während einer Drehbewegung (15, 16; 15a) des Bauteils (14) befestigt ist, wobei ein zweites Aufnahmeelement (20) dem ersten Aufnahmeelement (19) bezüglich dem Drehpunkt (17) gegenüberliegend derart außenseitig an dem Bauteil (14) angeordnet ist, dass jeweils ein Aufnahmeelement (19, 20) bei jeder Drehung (15,16) des Bauteils (14) um 180° dem Träger (11) zugewandt ist, und dass in dem Bauteil (14) zwischen den Aufnahmeelementen (19, 20) eine Durchgangsöffnung (28) derart angeordnet ist, dass die Durchgangsöffnung (28) bei einer Drehung (15,16) des Bauteils (14) um 90° oder 270° dem Träger (11) zugewandt ist. Es wird ein Verfahren zum Überprüfen und Umdrehen elektronischer Bauelemente, insbesondere Flipchips beschrieben.
(EN) The invention relates to a device for inspecting and rotating electronic components, particularly flip chips, comprising a component (14) which is rotatably mounted at a position of rotation (17) and which is used to rotate electric components. A first receiving element (19) is fixed to the outer side of the component (14) in order to receive a single electronic component of a carrier (14) and to secure it during a rotational movement (15, 16; 15a) of the component (14). A second receiving element (20) is arranged on the outer side of the component (14) opposite the first receiving element (19) in relation to the point of rotation (17) such that when the component (14) is rotated (15,16) by 180° it respectively faces the carrier (11), and a through opening (28) is arranged in the component (14) between the receiving elements (19,20) such that when the component (14) is rotated (15,16) by 90° or 270° the through opening (28) faces the carrier (11). The invention relates to a method for inspecting and rotating electronic components, particularly flipchips.
(FR) La présente invention concerne un dispositif pour vérifier et faire tourner des composants électroniques, en particulier des puces retournées, comprenant une pièce (14) montée pour pouvoir tourner au niveau d'un point de rotation (17), pour permettre la rotation des composants électroniques. Selon l'invention, sur l'extérieur de la pièce (14) est fixé un premier élément de réception (19) qui sert à recevoir un composant électronique individuel d'un support (11), et à le maintenir au cours du mouvement de rotation (15, 16; 15a) de la pièce (14), et un second élément de réception (20) est disposé sur l'extérieur de la pièce (14), à l'opposé du premier élément de réception (19) vis-à-vis du point de rotation (17), de sorte qu'un élément de réception respectif (19, 20) se trouve dirigé vers le support (11) à chaque rotation (15,16) de la pièce (14) de 180°, et une ouverture de passage (28) est pratiquée dans la pièce (14) entre les éléments de réception (19, 20) de sorte que l'ouverture de passage (28) se trouve dirigée vers le support (11) lorsque la pièce (14) effectue une rotation (15,16) de 90° ou 270°. L'invention a également pour objet un procédé pour vérifier et faire tourner des composants électroniques, en particulier des puces retournées.
