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1. WO2005057231 - VERFAHREN ZUR FUNKTIONSPRÜFUNG EINER LAMPENSCHALTUNG

Veröffentlichungsnummer WO/2005/057231
Veröffentlichungsdatum 23.06.2005
Internationales Aktenzeichen PCT/DE2004/002549
Internationales Anmeldedatum 19.11.2004
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen 12.05.2005
IPC
G01R 31/00 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
RMessen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
G01R 31/44 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
RMessen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
44Prüflampen
H01J 9/42 2006.01
HElektrotechnik
01Grundlegende elektrische Bauteile
JElektrische Entladungsröhren oder Entladungslampen
9Geräte oder Verfahren, die besonders für die Herstellung von elektrischen Entladungsröhren, Entladungslampen oder deren Teilen ausgebildet sind; Stoffliche Rückgewinnung von Materialien aus Entladungsröhren oder -lampen
42Messen oder Prüfen während der Herstellung
H01K 3/30 2006.01
HElektrotechnik
01Grundlegende elektrische Bauteile
KElektrische Glühlampen
3Geräte oder Verfahren, die besonders für die Herstellung, das Einsetzen, das Entfernen oder die Wartung von Glühlampen oder deren Teilen ausgebildet sind
30Instandsetzen oder Regenerieren gebrauchter oder schadhafter Lampen
H05B 37/03 2006.01
HElektrotechnik
05Elektrotechnik, soweit nicht anderweitig vorgesehen
BElektrische Heizung; elektrische Beleuchtung, soweit nicht anderweitig vorgesehen
37Schaltungsanordnungen für elektrische Lichtquellen allgemein
03Erkennen von Lampenfehlern
H05B 37/04 2006.01
HElektrotechnik
05Elektrotechnik, soweit nicht anderweitig vorgesehen
BElektrische Heizung; elektrische Beleuchtung, soweit nicht anderweitig vorgesehen
37Schaltungsanordnungen für elektrische Lichtquellen allgemein
03Erkennen von Lampenfehlern
04Schaltungen, die einen Ersatz der Lichtquelle vorsehen, falls diese versagt
CPC
G01R 21/06
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
21Arrangements for measuring electric power or power factor
06by measuring current and voltage
G01R 31/005
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
005Testing of electric installations on transport means
G01R 31/006
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
005Testing of electric installations on transport means
006on road vehicles, e.g. automobiles or trucks
G01R 31/44
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
44Testing lamps
G01R 31/50
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
H05B 47/21
HELECTRICITY
05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
BELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
47Circuit arrangements for operating light sources in general, i.e. where the type of the light source is not relevant
20Responsive to malfunctions or to light source life; for protection
21of two or more light sources connected in parallel
Anmelder
  • CONTI TEMIC MICROELECTRONIC GMBH [DE]/[DE] (AllExceptUS)
  • JOOS, Uli [DE]/[DE] (UsOnly)
  • ZWICK, Jochen [DE]/[DE] (UsOnly)
  • JEUTNER, Nicolai [DE]/[DE] (UsOnly)
Erfinder
  • JOOS, Uli
  • ZWICK, Jochen
  • JEUTNER, Nicolai
Prioritätsdaten
10 2004 009 006.825.02.2004DE
103 58 383.111.12.2003DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) VERFAHREN ZUR FUNKTIONSPRÜFUNG EINER LAMPENSCHALTUNG
(EN) METHOD FOR FUNCTIONAL TESTING OF A LAMP CIRCUIT
(FR) PROCEDE POUR TESTER LE FONCTIONNEMENT D'UN CIRCUIT DE LAMPE
Zusammenfassung
(DE)
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Funktionsprüfung einer Lampenschaltung, bestehend aus mindestens einer Lampe, durch Messung von Strom und Spannung. Dabei wird ein Widerstandswert berücksichtigt wird, welcher als ein Polynom zumindest 1. Ordnung, vorzugsweise 3. Ordnung abhängig von der aktuell gemessenen Spannung an der Lampenschaltung vorgegeben wird, wobei die Parameter des Polynoms durch eine zumindest der Ordnung des Polynoms entsprechende Anzahl von Messungen bei bekannten sich unterscheidenden Betriebsbedingungen bestimmt werden und der spezifische Widerstandswert oder eine daraus abgeleitete Grösse mit einem Vorgabewert verglichen werden. Besonders vorteilhaft ist, dass durch Normierung der Parameter auf die Nennleistung durch Multiplikation der Parameter mit der Nennleistung über weite Bereiche von Lampen unterschiedlicher Nennleistung mit vertretbaren Abweichungen einheitliche Durchschnittswerte gefunden werden. Weichen die Lampen zudem in der bei Nennleistung auftretenden Nennspannung voneinander ab, so erweist es sich als besonders vorteilhaft, diesen Widerstandswert auch auf eine gemeinsame Nennspannung zu normieren, so dass verschiedenste Lampen durch einheitliche Parameter mit guter Näherung gemeinsam beschrieben und entsprechende Funktionsprüfungen mit höherer Genauigkeit durchgeführt werden können. Insbesondere kann auch der Ausfall oder Einbau einer Lampe mit unzulässiger Spezifikation selbst bei Verschaltung mehrer Lampen parallel zueinander auf einen Ausgang erkannt werden.
(EN)
The invention relates to a method for functional testing of a lamp circuit, comprising at least one lamp, by measurement of current and voltage. A resistance value is considered, which is dependent on the actual measured voltage in the lamp circuit, as given by a polynomial of at least first order and preferably third order, whereby the parameter of the polynomial is determined by a number of measurements, corresponding to at least the order of the polynomial under known varying operating conditions and the specific resistance value or a parameter derived therefrom is compared with a given value. It is of advantage that unitary average values with acceptable differences can be found by normalisation of the parameter to the nominal power, by multiplication of the parameter by the nominal power, for wide ranges of lamps with varying nominal power. Should a difference occur for the lamps in the nominal voltage occurring with the nominal power, it is particularly of advantage to normalize said resistance value to a common nominal voltage such that differing lamps can be accurately described together with unitary parameters and corresponding functional analysis can be carried out with higher precision. In particular the drop-out, or inclusion of a lamp with non-permitted specification, even with wiring of several of said lamps in parallel to an output, can be recognised.
(FR)
L'invention concerne un procédé pour tester le fonctionnement d'un circuit de lampe, composé d'au moins une lampe, par mesure de tension et d'intensité du courant. Ledit procédé consiste à prendre en compte une valeur de résistance prescrite sous la forme d'un polynôme au moins de degré 1, de préférence de degré 3, en fonction de la tension alors mesurée au niveau du circuit de lampe, les paramètres du polynôme étant déterminés par un nombre de mesures correspondant au moins au degré du polynôme dans différentes conditions de fonctionnement connues et la valeur de résistance spécifique ou une grandeur dérivée de cette dernière étant comparée avec une valeur prescrite. Ce procédé est particulièrement avantageux en ce qu'il permet de déterminer des valeurs moyennes unitaires par normalisation des paramètres sur la puissance nominale par multiplication desdits paramètres par ladite puissance nominale sur de larges gammes de lampes de puissance nominale différente à différences justifiables. Si les lampes diffèrent également les unes des autres en matière de tension nominale à la puissance nominale, il s'avère alors particulièrement avantageux de normaliser cette valeur de résistance sur une tension nominale commune, de sorte que des lampes les plus diverses peuvent être décrites en commun par des paramètres unitaires avec une bonne approximation et des tests de fonctionnement correspondants peuvent être exécutés avec une précision accrue. En particulier, ce procédé permet également de détecter sur une sortie la défaillance d'une lampe ou le montage d'une lampe de spécification non admissible même lorsque plusieurs lampes sont connectées parallèlement les unes aux autres.
Auch veröffentlicht als
DE112004002729
DE1120040027292
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