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1. WO2005052612 - EIN- UND AUSGANGSSCHALTUNG EINES INTEGRIERTEN SCHALTKREISES, VERFAHREN ZUM TESTEN EINES INTEGRIERTEN SCHALTKREISES SOWIE INTEGRIERTER SCHALTKREIS MIT EINER SOLCHEN EIN- UND AUSGANGSSCHALTUNG

Veröffentlichungsnummer WO/2005/052612
Veröffentlichungsdatum 09.06.2005
Internationales Aktenzeichen PCT/DE2004/002588
Internationales Anmeldedatum 23.11.2004
IPC
G01R 31/3185 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
RMessen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
28Prüfen elektronischer Schaltungen, z.B. Signalverfolger
317Prüfen von digitalen Schaltungen
3181Funktionsprüfung
3185Rekonfigurationsschaltungen für Prüfzwecke, z.B. LSSD, Partitionierung
CPC
G01R 31/318566
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
318533using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
318566Comparators; Diagnosing the device under test
G01R 31/318572
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
31Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
317Testing of digital circuits
3181Functional testing
3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
318533using scanning techniques, e.g. LSSD, Boundary Scan, JTAG
318572Input/Output interfaces
Anmelder
  • INFINEON TECHNOLOGIES AG [DE]/[DE] (AllExceptUS)
  • ARNOLD, Ralf [DE]/[DE] (UsOnly)
  • GLAS, Martin [DE]/[DE] (UsOnly)
  • MÜLLER, Christian [DE]/[DE] (UsOnly)
  • OBERLE, Hans-Dieter [DE]/[DE] (UsOnly)
Erfinder
  • ARNOLD, Ralf
  • GLAS, Martin
  • MÜLLER, Christian
  • OBERLE, Hans-Dieter
Vertreter
  • SCHÄFER, Horst
Prioritätsdaten
103 55 116.624.11.2003DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) EIN- UND AUSGANGSSCHALTUNG EINES INTEGRIERTEN SCHALTKREISES, VERFAHREN ZUM TESTEN EINES INTEGRIERTEN SCHALTKREISES SOWIE INTEGRIERTER SCHALTKREIS MIT EINER SOLCHEN EIN- UND AUSGANGSSCHALTUNG
(EN) INPUT AND OUTPUT CIRCUIT FOR AN INTEGRATED SWITCHING CIRCUIT, METHOD FOR TESTING AN INTEGRATED SWITCHING CIRCUIT AND AN INTEGRATED SWITCHING CIRCUIT PROVIDED WITH SAID INPUT AND OUTPUT CIRCUIT
(FR) CIRCUIT D'ENTREE ET DE SORTIE D'UN CIRCUIT DE COMMUTATION INTEGRE, PROCEDE POUR TESTER UN CIRCUIT DE COMMUTATION INTEGRE ET CIRCUIT DE COMMUTATION INTEGRE DOTE D'UN CIRCUIT D'ENTREE ET DE SORTIE DE CE TYPE
Zusammenfassung
(DE)
Eine erfindungsgemäße Ein- und Ausgangsschaltung (2) eines integrierten Schaltkreises umfasst wenigstens einen Signalanschluss (PAD) zur externen Kontaktierung, eine Schutzschaltung (ESD), einen Eingangstreiber (IN) und einen Ausgangstreiber (OUT). Des weiteren verfügt die erfindungsgemäße Ein- und Ausgangsschaltung (2) über eine Zusatzschaltung (22; 31; 51), deren erster Eingang über die Schutzschaltung (ESD) mit dem Signalanschluss (PAD) verbunden ist und an deren Ausgang ein Testwert für die Funktion der Ein- und Ausgangsschaltung (2-5) anliegt.
(EN)
The invention relates to an input-output circuit (2) for an integrated switching circuit comprising at least one signal connection (PAD) for an external contact, a protection circuit (ESD), an input driver (IN) and an output driver (OUT). The inventive input-output circuit (2) also comprises an additional circuit (22, 31, 51) whose first input is connected to the signal connection (PAD) by the protection circuit (ESD) and a test value for the input-output circuit (2-5) arranged at the output of the additional circuit.
(FR)
L'invention concerne un circuit d'entrée et de sortie (2) d'un circuit de commutation intégré, ce circuit d'entrée et de sortie comprenant au moins une borne de signal (PAD) pour le contact externe, un circuit de protection (ESD), un circuit d'attaque d'entrée (ENTREE) et un circuit d'attaque de sortie (SORTIE). En outre, le circuit d'entrée et de sortie (2) de l'invention comprend un circuit supplémentaire (22; 31; 51), dont la première entrée est reliée à la borne de signal (PAD) par le circuit de protection (ESD), une valeur d'essai pour la fonction du circuit d'entrée et de sortie (2-5) se trouvant à la sortie du circuit supplémentaire.
Auch veröffentlicht als
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