WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Suche
 
Durchsuchen
 
Übersetzen
 
Optionen
 
Aktuelles
 
Einloggen
 
Hilfe
 
Maschinelle Übersetzungsfunktion
1. (WO2005038395) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG DER AKTUALPOSITION EINES GEODÄTISCHEN INSTRUMENTES
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2005/038395    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2004/010045
Veröffentlichungsdatum: 28.04.2005 Internationales Anmeldedatum: 09.09.2004
IPC:
G01C 11/02 (2006.01), G01C 15/00 (2006.01)
Anmelder: LEICA GEOSYSTEMS AG [CH/CH]; Heinrich-Wild-Strasse, CH-9435 Heerbrugg (CH) (For All Designated States Except US).
EULER, Hans-Jürgen [DE/CH]; (CH) (For US Only)
Erfinder: EULER, Hans-Jürgen; (CH)
Vertreter: KAMINSKY, Susanne; Büchel Kaminski & Partner, Austrasse 79, FL-9490 Vaduz (LI)
Prioritätsdaten:
03021133.8 22.09.2003 EP
Titel (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR BESTIMMUNG DER AKTUALPOSITION EINES GEODÄTISCHEN INSTRUMENTES
(EN) METHOD AND DEVICE FOR DETERMINING THE ACTUAL POSITION OF A GEODETIC INSTRUMENT
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR DETERMINER LA POSITION COURANTE D'UN INSTRUMENT GEODESIQUE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Zur Bestimmung der Aktualposition (A) eines geodätischen Messinstruments (1) in einem Totbereich (T) in dem von einem Positionierungssystem stammende Signale abgeschattet sind, werden mindestens zwei Referenzstrukturen (5) von mindestens zwei bekannten Positionen aus erfasst und den Referenzstrukturen (5) zugeordnete Entfernungen gemessen. Zu diesen Entfernungsmessungen werden verknüpfte Bildinformationen aufgenommen, welche Informationen über die Anordnung der Referenzstrukturen (5) beinhalten. Durch eine nachfolgende Erfassung der Referenzstrukturen (5) von einem Standort im Totbereich (T) aus kann die Aktualposition (A) abgeleitet werden. Vorteilhafterweise werden zur Identifizierung und Vermessung der Referenzstrukturen (5) Verfahren der Bildverarbeitung verwendet.
(EN)In order to determine the actual position (A) of a geodetic measuring instrument (1) inside a dead range (T) wherein signals originating from a positioning system are shadowed, two reference structures (5) are detected from at least two known positions and the distances associated with the reference structures (5) are measured. Image information linked to said distance measurements is captured. Said information contains data on the arrangement of the reference structures (5). The actual position (1) can be derived from subsequent capture of the reference structures (5) from a position inside the dead range (T). Image processing methods are used advantageously to identify and measure the reference structures (5).
(FR)La présente invention concerne un procédé pour déterminer la position courante (A) d'un instrument de mesure géodésique (1) dans une zone morte (T) dans laquelle des signaux provenant d'un système de positionnement sont bloqués. Ce procédé consiste à détecter au moins deux structures de référence (5) dans au moins deux positions connues, à mesurer des distances associées aux structures de référence (5), puis à extraire de ces mesures de distance des informations vidéo associées qui renferment des informations concernant la disposition des structures de référence (5) et enfin à déduire la position courante (A) en détectant ultérieurement les structures de référence (5) à un endroit situé dans la zone morte (T). Il est avantageux d'utiliser des procédés de traitement d'image pour identifier et mesurer les structures de référence (5).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)