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1. (WO2005033769) LUMINESZENZ-MIKROSKOPIE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2005/033769    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2004/010345
Veröffentlichungsdatum: 14.04.2005 Internationales Anmeldedatum: 15.09.2004
IPC:
G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/16 (2006.01)
Anmelder: CARL ZEISS JENA GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10, 07745 Jena (DE) (For All Designated States Except US).
SIMON, Ulrich [DE/DE]; (DE) (For US Only).
DANZ, Rainer [DE/DE]; (DE) (For US Only).
WOLLESCHENSKY, Ralf [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: SIMON, Ulrich; (DE).
DANZ, Rainer; (DE).
WOLLESCHENSKY, Ralf; (DE)
Vertreter: BREIT, Ulrich; Geyer, Fehners & Partner, Perhamerstrasse 31, 80687 München (DE)
Prioritätsdaten:
103 44 063.1 23.09.2003 DE
Titel (DE) LUMINESZENZ-MIKROSKOPIE
(EN) LUMINESCENCE MICROSCOPY
(FR) MICROSCOPIE DE LUMINESCENCE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Es wird beschrieben eine Mehr-Photonen-Lumineszenz-Mikroskop mit mindestens einer Anregungsstrahlung abgebenden Strahlungsquelle (3), einer optischen Anregungsanordnung (3, 4, 5, 8), die die Anregungsstrahlung in einem Fokus (F) auf eine zu untersuchende Probe (2) bündelt einer Detektoreinrichtung (15, 16) zum Erfassen von an oder in der Probe (2) angeregter Lumineszenzstrahlung und einer optischen Detektions-Anordnung (15, 14, 7, 5), die von der Probe (2) emittierte Strahlung aufnimmt und der Detektoreinrichtung (15, 16) zuführt, wobei die optische Anregungsanordnung (3, 4, 5, 8) die Anregungsstrahlung entlang einer Einfallsachse, (10) einstrahlt, die unter einem Winkel zu einer Flächennormalen (11) der Probe (2) liegt und die optische Detektionsanordnung (12, 14, 7, 5) die emittierte Strahlung entlang einer Detektionsachse (13) aufnimmt, weiche bezüglich der Flächennormalen (11 ) symmetrisch zur Einstrahlungsachse (10) liegt.
(EN)The invention relates to a multiphoton luminescence microscope comprising at least one excitation radiation-emitting radiation source (3), an optical excitation arrangement (3, 4, 5, 8) that bundles the excitation radiation in a focus (F) onto a specimen (2) to be examined; a detector device (15, 16) for detecting luminescence radiation excited on or in the specimen (2), and; an optical detection arrangement (15, 14, 7, 5), which receives radiation emitted by the specimen (2) and feeds it to the detector device (15, 16). The optical excitation arrangement (3, 4, 5, 8) irradiates the excitation radiation along an axis of incidence (10), which is situated at an angle to a surface normal (11) of the specimen (2), and the optical detection arrangement (12, 14, 7, 5) receives the emitted radiation along a detection axis (13) that is located symmetric to the irradiation axis (10) with regard to the surface normal (11).
(FR)L'invention concerne un microscope de luminescence à plusieurs photons, ce microscope comportant au moins une source de rayonnement (3) émettant un rayonnement d'excitation, un dispositif optique d'excitation (3, 4, 5, 8) qui focalise le rayonnement d'excitation dans un foyer (F) sur un échantillon (2) à examiner, un dispositif de détection (15, 16) pour saisir le rayonnement de luminescence excité sur ou dans l'échantillon (2), et un dispositif optique de détection (15, 14, 7, 5) qui capte le rayonnement émis par l'échantillon (2) et l'amène au dispositif de détection (15, 16). L'invention est caractérisée en ce que le dispositif optique d'excitation (3, 4, 5, 8) émet le rayonnement d'excitation le long d'un axe d'incidence (10) qui forme un angle avec une normale de surface (11) de l'échantillon (2) et que le dispositif optique de détection (15, 14, 7, 5) capte le rayonnement émis le long d'un axe de détection (13) symétrique à l'axe d'incidence (10) relativement à la normale de surface (11).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)