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1. (WO2005031427) VERFAHREN ZUR PROBENUNTERSUCHUNG UND MIKROSKOP MIT EVANESZENTER PROBENBELEUCHTUNG
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2005/031427    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2004/052273
Veröffentlichungsdatum: 07.04.2005 Internationales Anmeldedatum: 22.09.2004
IPC:
G02B 21/00 (2006.01), G02B 21/02 (2006.01), G02B 21/06 (2006.01), G02B 21/08 (2006.01), G02B 21/32 (2006.01)
Anmelder: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH [DE/DE]; Ernst-Leitz-Strasse 17-37, 35578 Wetzlar (DE) (For All Designated States Except US).
HECKER, Andreas [DE/DE]; (DE) (For US Only).
LEICA MICROSYSTEMS HEIDELBERG GMBH [DE/DE]; Am Friedensplatz 3, 68165 Mannheim (DE) (For All Designated States Except US).
ULRICH, Heinrich [DE/DE]; (DE) (For US Only).
KNEBEL, Werner; (DE) (For US Only).
MÖLLMANN, Kyra [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: HECKER, Andreas; (DE).
ULRICH, Heinrich; (DE).
KNEBEL, Werner; (DE).
MÖLLMANN, Kyra; (DE)
Vertreter: REICHERT, Werner, F.; Leica Microsystems AG, Corporate Patents and Trademark Department, Ernst-Leitz-Strasse 17-37, 35578 Wetzlar (DE)
Prioritätsdaten:
103 44 410.6 25.09.2003 DE
10 2004 044 311.4 10.09.2004 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUR PROBENUNTERSUCHUNG UND MIKROSKOP MIT EVANESZENTER PROBENBELEUCHTUNG
(EN) METHOD FOR ANALYSING A SAMPLE AND MICROSCOPE FOR EVANESCENTLY ILLUMINATING THE SAMPLE
(FR) PROCEDE D'EXAMEN D'ECHANTILLON ET MICROSCOPE A ECLAIRAGE EVANESCENT DE L'ECHANTILLON
Zusammenfassung: front page image
(DE)Ein Mikroskop (1) mit evaneszenter Probenbeleuchtung (9) und ein Verfahren zur Probenuntersuchung ist offenbart. Es wird ein erstes evanseszentes Feld, das eine erste Eindringtiefe in die Probe (11) aufweist, und ein zweites evanseszentes Feld, das eine zweite Eindringtiefe in die Probe, die größer als die erste Eindringtiefe ist, aufweist, erzeugt. Es ist ein Detektor (43) vorgesehen, der erstes Detektionslicht, das von dem mit dem ersten evanseszenten Feld beleuchteten Teil der Probe (11) ausgeht, detektiert und daraus erste Detektionslichtdaten erzeugt und der zweites Detektionslicht, das von dem mit dem zweiten evanseszenten Feld beleuchteten Teil der Probe (11) ausgeht, detektiert und daraus zweite Detektionslichtdaten erzeugt. Außerdem ist ein Verarbeitungsmodul (45) zum Verarbeiten der ersten und zweiten Detektionslichtdaten (37) vorgesehen.
(EN)The invention relates to a microscope (1) for evanescently illuminating (9) a sample, and to a method for sample analysis. According to the invention, a first evanescent field having a first penetration depth in the sample is produced, in addition to a second evanescent field having a second penetration depth in the sample (11), that is deeper than the first penetration depth. Said microscope comprises a sensor (43) that detects first detection light emitted from the part of the sample (11) illuminated by the first evanescent field, producing first detection light data therefrom, and detects second detection light emitted from the part of the sample (11) illuminated by the second evanescent field, producing second detection light data therefrom. The inventive microscope also comprises a processing module (45) for processing the first and second detection light data (37).
(FR)L'invention concerne un microscope (1) à éclairage évanescent (9) de l'échantillon, et un procédé d'examen d'échantillon. Selon l'invention, on produit un premier champ évanescent présentant une première profondeur de pénétration dans l'échantillon (11), et un deuxième champ évanescent présentant une deuxième profondeur de pénétration dans l'échantillon, supérieure à la première. Ledit microscope comporte un détecteur (43) détectant une première lumière de détection émise par la partie de l'échantillon (11) éclairée au moyen du premier champ évanescent, produisant à partir de ceci des premières données de lumière de détection, et détectant une deuxième lumière de détection émise par la partie de l'échantillon (11) éclairée au moyen du deuxième champ évanescent, et produisant à partir de ceci des deuxièmes données de lumière de détection. Ledit microscope comporte par ailleurs un module de traitement (45) destiné au traitement des premières et deuxièmes données de lumière de détection (37).
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)