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1. (WO2004114212) VERFAHREN ZUR KORREKTUR VON DURCH DEFEKTE IN EINER RÖNTGENSPEICHERLEUCHTSTOFFSCHICHT HERVORGERUFENEN BILDARTEFAKTEN UND RÖNTGENVORRICHTUNG
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2004/114212    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2004/006313
Veröffentlichungsdatum: 29.12.2004 Internationales Anmeldedatum: 11.06.2004
IPC:
G06T 5/00 (2006.01), G06T 7/00 (2006.01)
Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, 80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
SCHULZ, Reiner, Franz [DE/DE]; (DE) (For US Only).
FUCHS, Manfred [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: SCHULZ, Reiner, Franz; (DE).
FUCHS, Manfred; (DE)
Allgemeiner
Vertreter:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Wittelsbacherplatz 2, 80333 München (DE)
Prioritätsdaten:
103 27 039.6 16.06.2003 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUR KORREKTUR VON DURCH DEFEKTE IN EINER RÖNTGENSPEICHERLEUCHTSTOFFSCHICHT HERVORGERUFENEN BILDARTEFAKTEN UND RÖNTGENVORRICHTUNG
(EN) METHOD FOR CORRECTING IMAGE ARTEFACTS CAUSED BY DEFECTS IN A FLUORESCENT X-RAY STORAGE LAYER, AND X-RAY DEVICE
(FR) PROCEDE DE CORRECTION D'ARTEFACTS D'IMAGE DUS A DES DEFAUTS D'UNE COUCHE FLUORESCENTE DE STOCKAGE DE RAYONS X ET DISPOSITIF A RAYONS X
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Korrektur von durch Defekte in einer Röntgenspeicherleuchtstoffschicht (4) her-vorgerufenen Bildartefakten (7) mit folgenden Schritten: Bestrahlen einer Einfallsfläche der Röntgenspeicherleucht-stoffschicht (4) mit einer vorgegebenen homogenen Röntgenin-tensität, Bestrahlen der Einfallsfläche mit einer vorgegebenen homoge-nen Lichtintensität, Messen einer Intensität von emittiertem Szintillationslicht für jedes Pixel einer die Einfallsfläche beschreibenden Mat-rix (6a, 6b) und Ermittlung der einem Defekt entsprechenden Defektpixel DBi,j und Korrektur der den Defektpixeln DBi,j entsprechenden Pixel RBi,j eines Rohbilds RB mittels Interpolation.
(EN)The invention relates to a method for correcting image artefacts (7) caused by defects in a fluorescent x-ray storage layer (4), said method comprising the following steps: a surface of incidence of the fluorescent x-ray storage layer (4) is irradiated with a pre-determined homogeneous x-ray intensity; said surface of incidence is irradiated with a pre-determined homogeneous light intensity; the intensity of the emitted scintillation light is measured for each pixel of a matrix (6a, 6b) describing the surface of incidence, and the defect pixels DBi,j corresponding to a defect are determined; and the pixels RBi,j corresponding to the defect pixels DB i,j and pertaining to a raw image RB are corrected by means of interpolation.
(FR)L'invention concerne un procédé de correction d'artéfacts d'image (7) dus à des défauts d'une couche fluorescente de stockage de rayons X (4), consistant à irradier une surface d'incidence de la couche fluorescente de stockage de rayons X (4) au moyen d'une intensité de rayons X homogène prédéfinie ; à irradier la surface d'incidence au moyen d'une intensité lumineuse homogène prédéfinie ; à mesurer une intensité de lumière de scintillation émise pour chaque pixel d'une matrice (6a, 6b) décrivant la surface d'incidence, et à déterminer les pixels défectueux (DBi,j) correspondant à un défaut ; et, à corriger les pixels (RBi,j) d'une image brute (RB), correspondant aux pixels défectueux (DBi,j), par interpolation.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)