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1. (WO2004099802) VERFAHREN ZUM TESTEN VON UNBESTÜCKTEN LEITERPLATTEN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2004/099802    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2004/002420
Veröffentlichungsdatum: 18.11.2004 Internationales Anmeldedatum: 09.03.2004
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    17.11.2004    
IPC:
G01R 31/28 (2006.01)
Anmelder: ATG TEST SYSTEM GMBH & CO. KG [DE/DE]; Reicholzheim, Zum Schlag 3, 97877 Wertheim (DE) (For All Designated States Except US).
ROMANOV, Victor [RU/DE]; (DE) (For US Only).
YUSCHUK, Oleh [UA/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: ROMANOV, Victor; (DE).
YUSCHUK, Oleh; (DE)
Vertreter: GANAHL, Bernhard; Hüber & Schüssler, Truderinger Strasse 246, 81825 München (DE)
Prioritätsdaten:
103 20 925.5 09.05.2003 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUM TESTEN VON UNBESTÜCKTEN LEITERPLATTEN
(EN) METHOD FOR TESTING EMPTY PRINTED CIRCUIT BOARDS
(FR) PROCÉDÉ POUR TESTER DES PLAQUETTES SANS BARRETTES DE MÉMOIRE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen von Leiterplatten, inbesondere von unbestückten Leiterplatten. Beim erfindungsgemässen Verfahren wird das Niveau der Oberfläche einer zu testenden Leiterplatten bei einem Kontaktierungsvorgang automatisch erfasst und die weiteren Kontaktierungsvorgänge werden dann nach Massgabe des erfassten Niveau angesteuert. Hierdurch erfolgt bei der Ansteuerung der Bewegung der Prüfsonden des Fingertesters eine automatische Anpassung an das Niveau, was insbesondere beim Testen von biegsamen Leiterplatten von Vorteil ist, da deren Oberfläche eine dreidimensionale Form ausbilden kann.
(EN)The invention relates to a method for testing printed circuit boards, in particular empty printed circuit boards. The inventive method consists in automatically detecting the surface level of a tested board during a bonding process, the other bonding processes are controlled according to a detected level. In this manner, the control of the test probes of a finger tester is automatically adapted to the level, which is advantageous for testing flexible boards whose surface can be embodied in a three-dimensional shape.
(FR)L'invention concerne un procédé pour tester des cartes de circuits imprimés, notamment des plaquettes sans barrettes de mémoire. Selon ce procédé, le niveau de la surface d'une plaquette à tester est automatiquement saisi lors d'un processus de métallisation, les autres processus de métallisation étant commandés en fonction du niveau saisi. Ainsi, la commande du mouvement des sondes du testeur à patte est automatiquement adaptée au niveau, ce qui représente un avantage, notamment pour tester des plaquettes flexibles dont la surface peut présenter une forme tridimensionnelle.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)