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1. (WO2004077314) STATISTISCHE ANALYSE EINES TECHNISCHEN AUSGANGSPARAMETERS UNTER BERÜCKSICHTIGUNG DER SENSITIVITÄT
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten

Veröff.-Nr.: WO/2004/077314 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2004/000628
Veröffentlichungsdatum: 10.09.2004 Internationales Anmeldedatum: 26.01.2004
IPC:
G05B 13/04 (2006.01) ,G06F 17/50 (2006.01)
G Physik
05
Steuern; Regeln
B
Steuer- oder Regelsysteme allgemein; funktionelle Elemente solcher Systeme; Überwachungs- oder Prüfanordnungen für solche Systeme oder Elemente
13
Selbstanpassende Steuerungs- oder Regelungssysteme, d.h. Systeme, die sich automatisch entsprechend einem vorgegebenen Kriterium auf eine optimale Arbeitsweise einstellen
02
Elektrische selbstanpassende Steuerungs- oder Regelungssysteme
04
die die Verwendung von Modellen oder Simulatoren einschließen
G Physik
06
Datenverarbeitung; Rechnen; Zählen
F
Elektrische digitale Datenverarbeitung
17
Digitale Rechen- oder Datenverarbeitungsanlagen oder -verfahren, besonders angepasst an spezielle Funktionen
50
Rechnergestütztes Entwurfsystem [CAD]
Anmelder:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 80333 München, DE (AllExceptUS)
MONTRONE, Francesco [DE/DE]; DE (UsOnly)
WEVER, Utz [DE/DE]; DE (UsOnly)
Erfinder:
MONTRONE, Francesco; DE
WEVER, Utz; DE
Allgemeiner
Vertreter:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34 80506 München, DE
Prioritätsdaten:
103 08 314.626.02.2003DE
Titel (DE) STATISTISCHE ANALYSE EINES TECHNISCHEN AUSGANGSPARAMETERS UNTER BERÜCKSICHTIGUNG DER SENSITIVITÄT
(EN) STATISTICAL ANALYSIS OF A TECHNICAL OUTPUT PARAMETER, WHICH TAKES SENSITIVITY INTO ACCOUNT
(FR) ANALYSE STATISTIQUE D'UN PARAMETRE DE SORTIE TECHNIQUE TENANT COMPTE DE LA SENSIBILITE
Zusammenfassung:
(DE) Bei einer Analyse, insbesondere einer Simulation, wird der Erwartungswert und/oder die Varianz eines technischen Ausgangsparameters in Abhängigkeit von einem technischen Eingangsparameter unter Berücksichtigung der Sensitivität des technischen Ausgangsparameters gegenüber dem technischen Eingangsparameter ermittelt.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Afrikanische regionale Organisation für geistiges Eigentum (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasisches Patentamt (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPA) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Afrikanische Organisation für geistiges Eigentum (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)