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1. (WO2004076998) MICHELSON-INTERFEROMETER
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten

Veröff.-Nr.: WO/2004/076998 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2004/001696
Veröffentlichungsdatum: 10.09.2004 Internationales Anmeldedatum: 20.02.2004
IPC:
G01J 3/453 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
J
Messen der Intensität, der Geschwindigkeit, der spektralen Zusammensetzung, der Polarisation, der Phase oder der Pulscharakteristik von infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht; Farbmessung; Strahlungspyrometrie
3
Spektrometrie; Spektrofotometrie; Monochromatoren; Farbmessung
28
Untersuchen des Spektrums
45
Interferenz-Spektrometrie
453
durch Korrelation der Amplituden
Anmelder:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 80333 München, DE (AllExceptUS)
KORN, Alexander [DE/DE]; DE (UsOnly)
Erfinder:
KORN, Alexander; DE
Allgemeiner
Vertreter:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34 80506 München, DE
Prioritätsdaten:
10308006.625.02.2003DE
Titel (DE) MICHELSON-INTERFEROMETER
(EN) MICHELSON INTERFEROMETER
(FR) INTERFEROMETRE DE MICHELSON
Zusammenfassung:
(DE) Ein Michelson-Interferometer weist einen Strahlteiler auf, der ein von einer Strahlungsquelle kommendes Strahlenbündel in zwei Teilbündel aufteilt und diese nach Durchlaufen von zwei Strahlungswegen zu einem neuen Strahlenbündel zur weiteren Verarbeitung vereinigt. Zwei Umlenkspiegel reflektieren die von dem Strahlteiler kommenden Teilbündel in unterschiedliche Teilbereiche eines rotierenden Retroreflektors, dessen Rotationsachse gegenüber seinem Tripelpunkt seitlich versetzt ist. Zwei Planspiegel spiegeln die von dem Retroreflektor reflektierten Teilbündel senkrecht zu diesem wieder zurück. Um einen vereinfachten Aufbau und eine hohe Genauigkeit des Interferometers zu erreichen, sind zwei gleiche Prismenkörper (29, 30) mit jeweils einer ersten, zweiten, dritten und vierten planen Fläche (31 bis 38) vorgesehen, die an ihren ersten Flächen (31, 32) unter Bildung des Strahlteilers (8) spiegelsymmetrisch aneinander liegen, deren zweite Flächen (33, 34) die Umlenkspiegel (10, 12) bilden, deren dritte Flächen (35, 36) senkrecht zu den Strahlenbündeln (7 bzw. 20) liegen und deren vierte Flächen (37, 38) senkrecht zu den jeweiligen, von den Umlenkspiegeln (10, 12) in Richtung zu dem Retroreflektor (14) reflektierten Teilbündeln (9, 11) liegen.
(EN) Disclosed is a Michelson interferometer comprising a beam splitter which splits a beam originating from a radiation source into two partial beams and combines said partial beams into a new beam for further processing once the partial beams have completed two radiation paths. Two deflection mirrors reflect the partial beams originating from the beam splitter into different partial areas of a rotating retroreflector, the axis of rotation of which is laterally offset from the triple point thereof. Two plane mirrors reflect the partial beams that are reflected by the retroreflector back perpendicular thereto. In order to obtain an interferometer having a simplified structure and offering high accuracy, two identical prism bodies (29, 30) comprising a first, second, third, and fourth planar area (31 to 38), respectively, are provided. The two prism bodies symmetrically rest against each other on the first areas (31, 32) thereof so as to form the beam splitter (8) while the second areas (33, 34) thereof form the deflection mirrors (10, 12), the third areas (35, 36) thereof are located perpendicular to the beams (7 or 20), and the fourth areas (37, 38) thereof are disposed perpendicular to the respective partial beams (9, 11) that are reflected in the direction of the retroreflector (14) by means of the deflection mirrors (10, 12).
(FR) La présente invention concerne un interféromètre de Michelson comprenant un diviseur de faisceau qui divise un faisceau lumineux provenant d'une source de rayonnement en deux faisceaux partiels et qui les réunit en un nouveau faisceau lumineux, après qu'ils aient traversé deux voies de rayonnement, afin de les soumettre à un traitement ultérieur. Deux miroirs de déviation réfléchissent les faisceaux partiels provenant du diviseur de faisceau dans différentes zones partielles d'un rétroréflecteur rotatif dont l'axe de rotation est décalé latéralement par rapport à son point triple. Deux miroirs plans réfléchissent à nouveau les faisceaux partiels réfléchis par le rétroréflecteur perpendiculairement à celui-ci. L'objectif de la présente invention est d'obtenir un interféromètre de construction simplifiée et de grande précision. Cet objectif est atteint par deux corps de prisme identiques (29, 30) présentant respectivement une première, une deuxième, une troisième et une quatrième surfaces planes (31 à 38) qui sont adjacentes de manière symétrique sur leurs premières surfaces (31, 32), formant alors le diviseur de faisceau (8). Les secondes surfaces (33, 34) forment le miroir de déviation, les troisièmes surfaces (35, 36) sont perpendiculaires aux faisceaux (7 ou 20) et les quatrièmes surfaces (37, 38) sont perpendiculaires à chaque faisceau partiel (9, 11) réfléchi par les miroirs de déviation (10, 12) en direction du rétroréflecteur (14).
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Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Afrikanische regionale Organisation für geistiges Eigentum (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasisches Patentamt (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
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Afrikanische Organisation für geistiges Eigentum (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)