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1. (WO2004074769) VERFAHREN ZUR BERÜHRUNGSLOSEN VERMESSUNG EINES OBJEKTS
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten

Veröff.-Nr.: WO/2004/074769 Internationale Anmeldenummer PCT/CH2004/000003
Veröffentlichungsdatum: 02.09.2004 Internationales Anmeldedatum: 07.01.2004
IPC:
G01B 11/02 (2006.01) ,G01B 11/10 (2006.01) ,G01B 11/24 (2006.01) ,G01B 11/245 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
02
zum Messen der Länge, Breite oder Dicke
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
08
zum Messen von Durchmessern
10
von laufendem Messgut
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
24
zum Messen von Umrisslinien oder Krümmungen
G Physik
01
Messen; Prüfen
B
Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11
Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
24
zum Messen von Umrisslinien oder Krümmungen
245
unter Verwendung einer Vielzahl von fixierten, gleichzeitig arbeitenden Messwertaufnehmern
Anmelder:
CEDES AG [CH/CH]; Weststrasse CH-7302 Landquart, CH (AllExceptUS)
DE COI, Beat [CH/CH]; CH (UsOnly)
Erfinder:
DE COI, Beat; CH
Vertreter:
SCHREIBER, Wolfgang, F. ; Riederer Hasler & Partner Patentanwälte AG Elestastrasse 8 CH-7310 Bad Ragaz, CH
Prioritätsdaten:
284/0324.02.2003CH
Titel (DE) VERFAHREN ZUR BERÜHRUNGSLOSEN VERMESSUNG EINES OBJEKTS
(EN) METHOD FOR THE CONTACTLESS MEASUREMENT OF AN OBJECT
(FR) PROCEDE POUR MESURER UN OBJET SANS CONTACT
Zusammenfassung:
(DE) Es ist ein ein Verfahren zur berührungslosen Vermessung eines Objekts (6) in wenig­stens einer Dimension vorgeschlagen, bei dem das Objekt (6) in einem räumlich be­grenzten Wirkungsbereich eines Abtaststrahlenfeldes (1) abgetastet und aus der De­tektion einer oder mehrerer Unterbrechungen der Abtaststrahlen (L) auf die Grösse des Objekts (6) in der vermessenen Dimension geschlossen wird. Das Abtaststrahlenfeld (1) ist aus einer Anzahl direkt adressierbarer Einzelstrahlen (L) aufgebaut. Die strah­lenmässige Abtastung des räumlich begrenzten Wirkungsbereichs des Abtaststrahlenfeldes (1) erfolgt nach einem vorgebbaren Schrittmuster unter Verwendung eines nicht-linearen Sortierverfahrens. Ein bevorzugtes Verfahren besteht in der Anwendung eines binären Suchverfahrens.
(EN) The invention relates to a method for the contactless measurement of an object (6) in at least one dimension. According to said method, the object (6) is scanned in a spatially restricted effective zone of a scanning beam field (1) and the size of the object (6) in terms of the measured dimension is deduced by the detection of one or more interruptions in the scanning beams (L). The scanning beam field (1) is constructed from a number of directly addressable individual beams (L). The beam-assisted scanning of the spatially restricted effective zone of the scanning beam field (1) is carried out according to a predefinable pattern of steps, using a non-linear sorting method. A preferred method uses binary location.
(FR) L'invention concerne un procédé pour mesurer un objet (6) sans contact en au moins une dimension. Selon ce procédé, l'objet (6) est balayé dans un champ d'action limité dans l'espace d'un champ de faisceaux de balayage (1) et, à partir de la détection d'une ou de plusieurs interruptions des faisceaux de balayage (L), la grandeur de l'objet (6) est déterminée en tant que dimension mesurée. Le champ de faisceaux de balayage (1) est composé d'un certain nombre de faisceaux individuels (L) directement adressables. Le balayage par faisceaux du champ d'action limité dans l'espace du champ de faisceaux de balayage (1) est effectué selon un modèle de progression donné en appliquant un procédé de classement non linéaire. Dans un mode de réalisation préféré, un procédé de recherche binaire est utilisé.
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Afrikanische regionale Organisation für geistiges Eigentum (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasisches Patentamt (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Europäisches Patentamt (EPA) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Afrikanische Organisation für geistiges Eigentum (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)
Auch veröffentlicht als:
KR1020050104385BRPI0407762EP1597538JP2006518840US20060145101CN1754081