WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Suche
 
Durchsuchen
 
Übersetzen
 
Optionen
 
Aktuelles
 
Einloggen
 
Hilfe
 
Maschinelle Übersetzungsfunktion
1. (WO2004038394) VERFAHREN ZUR QUALITÄTSKONTROLLE VON ANSCHLUSSKUGELN VON ELEKTRONISCHEN BAUELEMENTEN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2004/038394    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2003/011711
Veröffentlichungsdatum: 06.05.2004 Internationales Anmeldedatum: 22.10.2003
IPC:
G01N 21/88 (2006.01), G01N 21/956 (2006.01), H05K 13/08 (2006.01)
Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, 80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
NEUMAIER, Klaus [DE/DE]; (DE) (For US Only).
SCHIEBEL, Günter [DE/DE]; (DE) (For US Only).
WERSHOFEN, Klaus, Peter [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: NEUMAIER, Klaus; (DE).
SCHIEBEL, Günter; (DE).
WERSHOFEN, Klaus, Peter; (DE)
Allgemeiner
Vertreter:
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34, 80506 München (DE)
Prioritätsdaten:
102 49 850.4 25.10.2002 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUR QUALITÄTSKONTROLLE VON ANSCHLUSSKUGELN VON ELEKTRONISCHEN BAUELEMENTEN
(EN) METHOD FOR THE QUALITY CONTROL OF CONNECTION BALLS OF ELECTRONIC COMPONENTS
(FR) PROCEDE POUR VERIFIER LA QUALITE DE BILLES DE CONNEXION DE COMPOSANTS ELECTRONIQUES
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung schafft ein Verfahren zur Qualitätskontrolle von Anschlusskugeln 102 von elektronischen Bauelementen 100, bei denen die Anschlusskugeln 102 auf einer flächigen Unterseite des Bauelements 100 angeordnet sind. Die Unterseite der Bauelemente 100 wird von einer steilen Beleuchtung 103a und von einer flachen Beleuchtung 103b beleuchtet, so dass unterschiedliche Lichtreflexe 104a und 104b erzeugt werden. Durch einen Vergleich der von den unterschiedlichen Beleuchtungen erzeugten Lichtreflexe, die jeweils einer Anschlusskugel 102 zugeordnet werden, mit Referenz-Lichtreflexen, kann die Qualität jeder einzelnen Anschlusskugel 102 bestimmt werden. Eine bevorzugte Ausführungsform der Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass (a) die steile Beleuchtung 103a senkrecht von unten auf Bauelemente 100 trifft, dass (b) die flache Beleuchtung 103b von einer ringförmigen Beleuchtungseinheit erzeugt wird und somit die Anschlusskugeln 102 unter einem bestimmten Winkel von allen Seiten beleuchtet werden, und dass (c) die Lichtreflexe senkrecht zu der Unterseite der Bauelemente erfasst werden.
(EN)The invention relates to a method for the quality control of connection balls (102) of electronic components (100) in which the connection balls (102) are arranged on a flat lower side of the component (100). The lower side of the components (100) is illuminated by an inclined illumination element (103a) and by a flat illumination element (103b), in such a way that different luminous reflections (104a and 104b) can be produced. The quality of each individual connection ball (102) can be determined by comparing the luminous reflections that are produced by the different illuminations, and are respectively associated with a connection ball (102), with reference luminous reflections. A preferred form of embodiment is characterised in that: (a) the inclined illumination element (103a) meets the components (100) perpendicularly from below, (b) the flat illumination element (103b) is produced by an annular illumination unit, enabling the connection balls (102) to be illuminated on all sides, at a defined angle, and (c) the light reflections are detected perpendicularly to the lower side of the components.
(FR)La présente invention concerne un procédé pour vérifier la qualité de billes de connexion (102) de composants électroniques (100), les billes de connexion (102) étant disposées sur le côté inférieur du composant (100). Le côté inférieur des composants (100) est éclairé par un éclairage vertical (103a) et un éclairage horizontal (103b) de sorte que différents motifs de réflexion de lumière (104a) et (104b) sont produits. La comparaison des motifs de réflexion de lumière produits par différents éclairages et associés respectivement à une bille de connexion (102), avec des motifs de réflexion de lumière de référence, permet de déterminer la qualité de chaque bille de connexion (102). Un mode de réalisation préféré de l'invention se caractérise en ce que: (a) l'éclairage vertical (103a) rencontre les composants (100) par le dessous, perpendiculairement à ceux-ci; (b) l'éclairage horizontal (103b) est produit par une unité d'éclairage annulaire et permet aux billes de connexion (102) d'être éclairées de tous côtés sous un angle déterminé; et (c) les motifs de réflexion sont détectés perpendiculairement au côté inférieur des composants.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)