(DE) Die Erfindung bezieht sich auf ein Testverfahren und auf eine darauf basierende Testmaschine, die Aussagen zum Sprödbruchverhalten von Chipkarten (7) liefert. Bei diesem Verfahren werden Chipkarten stossartig in einem Winkelbereich von 140° bis 180° gebogen. Die Testmaschine umfasst ein Gehäuse, um Verletzungen zu vermeiden.
(EN) The invention relates to a testing method and a testing machine based on said testing method, wherein said testing machine provides information on the brittle fracture behavior of chip cards (7). According to said method, the chip cards are bent intermittently at an angle ranging from 140° to 180°. The testing machine comprises a housing to prevent injuries.
(FR) La présente invention concerne un procédé d'essai et une machine d'essai basée sur ce procédé, qui fournit des informations relatives au comportement de rupture fragile de cartes à puce (7). Selon ce procédé, des cartes à puce sont courbées de manière saccadée dans une plage angulaire allant de 150° à 180°. Ladite machine d'essai comprend un boîtier qui permet d'empêcher de se blesser.