WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Suche
 
Durchsuchen
 
Übersetzen
 
Optionen
 
Aktuelles
 
Einloggen
 
Hilfe
 
Maschinelle Übersetzungsfunktion
1. (WO2003088368) ORTSEMPFINDLICHE GERMANIUMDETEKTOREN MIT MIKROSTRUKTUR AUF BEIDEN KONTAKTFLÄCHEN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2003/088368    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2003/003485
Veröffentlichungsdatum: 23.10.2003 Internationales Anmeldedatum: 03.04.2003
IPC:
G01T 1/161 (2006.01), G01T 1/24 (2006.01), G01T 1/29 (2006.01), H01L 31/115 (2006.01), H01L 31/118 (2006.01)
Anmelder: FORSCHUNGSZENTRUM JÜLICH GMBH [DE/DE]; 52425 Jülich (DE) (For All Designated States Except US).
PROTIC, Davor [HR/DE]; (DE) (For US Only).
KRINGS, Thomas [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: PROTIC, Davor; (DE).
KRINGS, Thomas; (DE)
Vertreter: GILLE HRABAL STRUCK NEIDLEIN PROP ROOS; Brucknerstr. 20, 40593 Düsseldorf (DE)
Prioritätsdaten:
102 17 426.1 18.04.2002 DE
Titel (DE) ORTSEMPFINDLICHE GERMANIUMDETEKTOREN MIT MIKROSTRUKTUR AUF BEIDEN KONTAKTFLÄCHEN
(EN) POSITION-SENSITIVE GERMANIUM DETECTORS HAVING A MICROSTRUCTURE ON BOTH CONTACT SURFACES
(FR) DETECTEURS AU GERMANIUM SENSIBLES A LA POSITION COMPORTANT UNE MICROSTRUCTURE SUR LES DEUX FACES DE CONTACT
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft einen ortsauflösenden Detektor für die Messung von geladenen Teilchen mit einem Oberflächenbereich, der durch eine amorphe Schicht und eine darüber befindliche, strukturierte metallische Schicht gebildet ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Struktur der metallischen Schicht in die amorphe Schicht hinein fortgesetzt ist.
(EN)The invention relates to a high-resolution detector used to measure charged particles in a surface area that is formed by an amorphous layer and a superimposed, structured metal layer, whereby the structure of the metal layer extends right into the amorphous layer.
(FR)L'invention concerne un détecteur sensible à la position, destiné à la mesure de particules chargées, comportant une zone de surface formée par une couche amorphe et par une couche métallique structurée, située au dessus de la couche amorphe. Le détecteur selon l'invention est caractérisé en ce que la structure de la couche métallique se prolonge dans la couche amorphe.
Designierte Staaten: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PT, RO, SE, SI, SK, TR).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)