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1. (WO2003038120) VERFAHREN ZUR ANALYSE GENOMISCHER METHYLIERUNGSMUSTER
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2003/038120    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/DE2002/004053
Veröffentlichungsdatum: 08.05.2003 Internationales Anmeldedatum: 25.10.2002
IPC:
C12Q 1/68 (2006.01)
Anmelder: EPIGENOMICS AG [DE/DE]; Kastanienallee 24, 10435 Berlin (DE) (For All Designated States Except US).
BERLIN, Kurt [DE/DE]; (DE) (For US Only).
ROY, Debjani [GB/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: BERLIN, Kurt; (DE).
ROY, Debjani; (DE)
Vertreter: SCHUBERT, Klemens; Neue Promenade 5, 10178 Berlin-Mitte (DE)
Prioritätsdaten:
101 54 318.2 26.10.2001 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUR ANALYSE GENOMISCHER METHYLIERUNGSMUSTER
(EN) METHOD FOR ANALYSIS OF GENOMIC METHYLATION MODELS
(FR) PROCEDE D'ANALYSE D'UN MODELE DE METHYLATION GENOMIQUE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung offenbart ein Verfahren zur Analyse von Methylierungsmustern in genomischer DNA. Im Unterschied zu gegenwärtigen Verfahren der Analyse von Methylierungsmustern umfasst es eine zweiteilige Methode, bei der genomische DNA zuerst einer methylierungsspezifischen Behandlung ausgesetzt wird, der ein isothermer Replikationschritt folgt.
(EN)The invention relates to a method for analysis of methylation models in genomic DNA. In contrast to conventional methods for the analysis of methylation models, said method comprises a two-part method, whereby the genomic DNA is firstly subjected to a methylation specific treatment followed by an isothermal replication step.
(FR)L'invention concerne un procédé d'analyse de modèles de méthylation de l'ADN génomique. Contrairement au procédé actuel d'analyse de modèles de méthylation, le procédé selon l'invention comporte une méthode en deux temps, selon laquelle l'ADN génomique est d'abord soumis à un traitement spécifique à la méthylation puis à une étape de réplication isotherme.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)