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1. (WO2003008901) VERFAHREN ZUR MESSUNG RÄUMLICHER LAGE UND/ODER ABMESSUNG EINER DURCHBRECHUNG EINES WERKSTÜCKES
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2003/008901    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2002/007471
Veröffentlichungsdatum: 30.01.2003 Internationales Anmeldedatum: 05.07.2002
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    30.01.2003    
IPC:
G01B 11/12 (2006.01), G01B 11/26 (2006.01), G01B 21/14 (2006.01)
Anmelder: WERTH MESSTECHNIK GMBH [DE/DE]; Siemensstrasse 19, 35394 Giessen (DE) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NE, NL, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SN, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW only).
CHRISTOPH, Ralf [DE/DE]; (DE) (For US Only).
ANDRÄS, Matthias [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: CHRISTOPH, Ralf; (DE).
ANDRÄS, Matthias; (DE)
Vertreter: STOFFREGEN, Hans-Herbert; Friedrich-Ebert-Anlage 11b, 63450 Hanau (DE)
Prioritätsdaten:
101 33 840.6 16.07.2001 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUR MESSUNG RÄUMLICHER LAGE UND/ODER ABMESSUNG EINER DURCHBRECHUNG EINES WERKSTÜCKES
(EN) METHOD FOR MEASURING THE SPATIAL POSITION AND/OR OPENING OF A WORK PIECE
(FR) PROCEDE DE MESURE DE LA POSITION SPATIALE ET/OU DE MESURE DE LA PERFORATION D'UNE PIECE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Messung räumlicher Lage und/oder Abmessung einer Durchbrechung wie Bohrung eines Werkstückes im Durchlichtverfahren unter Verwendung zumindest eines optischen Sensors. Um mit konstruktiv einfachen Maßnahmen Durchbrechungen wie Bohrungen mit hoher Präzision vermessen zu können, wird vorgeschlagen, dass zumindest zwei parallel verlaufende Schnitte zwischen aus der Durchbrechung austretendem Lichtkegel und zumindest zwei Arbeitsebenen von optischen Sensoren gemessen und aus zwischen Mittelpunkten so ermittelter Kurven verlaufender Geraden Achsrichtung der Durchbrechung berechnet wird.
(EN)The invention relates to a method for measuring the spatial position and/or opening such as a bore of a work piece by means of a transmitted light process using at least one optical sensor. The aim of the invention is to perform high precision measurements of openings such as bore in a constructively simple manner. To achieve this, at least two parallel sections between the light cone emerging from the opening and at least two working planes are measured by optical sensors, and the axial direction of the opening is calculated using straight lines which extend between the mid-points of the curves thus determined.
(FR)L'invention concerne un procédé de mesure de la position spatiale et/ou de mesure de la perforation, par exemple du perçage d'une pièce au moyen du procédé de transparence faisant intervenir au moins un capteur optique. L'invention vise à réaliser avec une construction simple des mesures précises de perforations telles que des perçages. A cet effet, on mesure au moins deux sections parallèles entre le cône lumineux sortant de la perforation et au moins deux plans de travail au moyen de capteurs optiques, et on détermine l'orientation axiale de la perforation à partir de droites s'étendant entre des points centraux de courbes ainsi déterminées.
Designierte Staaten: AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NO, NZ, OM, PH, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, MZ, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, SK, TR)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)