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1. (WO2002041016) ANORDNUNG ZUM VERBINDEN VON TESTNADELN EINES TESTADAPTERS MIT EINER PRÜFEINRICHTUNG
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten

Veröff.-Nr.: WO/2002/041016 Internationale Anmeldenummer PCT/EP2001/013192
Veröffentlichungsdatum: 23.05.2002 Internationales Anmeldedatum: 14.11.2001
IPC:
G01R 1/073 (2006.01) ,G01R 31/28 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
1
Einzelheiten von Instrumenten oder Anordnungen der von den Gruppen G01R5/-G01R13/118
02
Allgemeine bauliche Einzelheiten
06
Messleitungen; Messsonden
067
Messsonden
073
Vielfachsonden
G Physik
01
Messen; Prüfen
R
Messen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
31
Anordnungen zum Prüfen auf elektrische Eigenschaften; Anordnungen zur Bestimmung des Ortes elektrischer Fehler; Anordnungen zum elektrischen Prüfen, gekennzeichnet durch den zu prüfenden Gegenstand, soweit nicht anderweitig vorgesehen
28
Prüfen elektronischer Schaltungen, z.B. Signalverfolger
Anmelder:
TEST PLUS ELECTRONIC GMBH [DE/DE]; Ruppertstrasse 1 80337 München, DE (AllExceptUS)
OTT, Rainer [DE/DE]; DE (UsOnly)
Erfinder:
OTT, Rainer; DE
Vertreter:
KÖRBER, Wolfhart; Mitscherlich & Partner Sonnenstrasse 33 80331 München, DE
Prioritätsdaten:
100 57 456.420.11.2000DE
Titel (DE) ANORDNUNG ZUM VERBINDEN VON TESTNADELN EINES TESTADAPTERS MIT EINER PRÜFEINRICHTUNG
(EN) ARRANGEMENT FOR CONNECTING THE TEST NEEDLES OF A TEST ADAPTER TO A TESTING DEVICE
(FR) ENSEMBLE SERVANT A RACCORDER DES AIGUILLES DE TEST D'UN ADAPTATEUR DE TEST A UN DISPOSITIF DE CONTROLE
Zusammenfassung:
(DE) Erfindungsgemäß wird eine Anordnung zum Aufspreizen von dicht angeordneten Anschlußpunkten (11) von Testnadeln (3) eines Testadapters für Prüfeinrichtungen zum Testen einer insbesondere bestückten Leiterplatinen (6), vorgeschlagen. Die Anordnung enthält: - Anschlußpunkte (11) für Testnadeln (3) des Testadapters, wobei die Verteilung der Anschlußpunkte (11) für Testnadeln (3) der Verteilung der Testnadeln (3) entspricht; - Anschlußpunkte (12) für eine Prüfeinrichtung, wobei jedem Anschlußpunkt (11) für eine Testnadel (3) genau ein Anschlußpunkt (12) für die Prüfeinrichtung zugeordnet ist, und die Anschlußpunkte (12) für die Prüfeinrichtung weiter voneinander beabstandet sind als die Anschlußpunkte (11) für Testnadeln (3); sowie - eine Verbindungsstruktur (17), die Anschlußpunkte (11) für Testnadeln (3) und Anschlußpunkte (12) für die Prüfeinrichtung paarweise elektrisch miteinander verbindet, so daß jeder Anschlußpunkt (11) für eine Testnadel (3) mit einem Anschlußpunkt (12) für die Prüfeinrichtung verbunden ist, wobei die Anordnung individuell an die zu prüfende Leiterplatine (6) angepaßt ist.
(EN) According to the invention, an arrangement is disclosed for opening up closely arranged connection points (11) for the test needles (3) of a test adapter for testing devices to be used especially for testing a printed circuit board fitted with numerous components(6). The inventive arrangement is comprised of the following: connection points (11) for the test needles (3) of a test adapter, the distribution of said connection points (11) for the test needles (3) corresponding to the distribution of the test needles (3) themselves; connection points (12) for a testing device, each connection point (11) for a test needle being associated with precisely one connection point (12) for the testing device, said connection points (12) for the testing device being arranged at a further distance from each other than the connection points (11) for the test needles; in addition to a connecting structure (17) which connects the test needle (3) connection points (11) to connection points (12) for the testing device (3) both electrically and in pairs so that each test needle (3) connection point (11) is connected to a connection point (12) for the testing device. Said arrangement is individually adapted to the printed circuit board to be tested (6).
(FR) L'invention concerne un ensemble servant à ouvrir, en les écartant, des points de connexion (11), placés tout près les uns des autres, d'aiguilles de test (3) d'un adaptateur de test pour des dispositifs de contrôle servant à tester une carte de circuits imprimés (6), notamment pourvue de composants. Cet ensemble comprend des points de connexion (11) pour les aiguilles de test (3) de l'adaptateur de test, la répartition de ces points de connexion (11) correspondant à celle des aiguilles de test (3) ; des points de connexion (12) pour un dispositif de contrôle, un point de connexion (12) destiné au dispositif de contrôle étant exactement affecté à chaque point de connexion (11) destiné à une aiguille de test (3), et les points de connexion (12) pour le dispositif de contrôle étant plus espacés que les points de connexion (11) pour les aiguilles de test (3) ; une structure de raccordement (17) qui raccorde électriquement, deux par deux, les points de connexion (11) pour les aiguilles de test (3) et les points de connexion (12) pour le dispositif de contrôle, de sorte que chaque point de connexion (11) pour une aiguille de test (3) soit raccordé à un point de connexion (12) pour le dispositif de contrôle. L'ensemble selon l'invention est adapté de manière individuelle à la carte de circuits imprimés (6) à contrôler.
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Designierte Staaten: JP, US
Europäisches Patentamt (EPA) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE, TR)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)