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1. (WO2001088473) INSPEKTION EINER DREIDIMENSIONALEN OBERFLÄCHENSTRUKTUR SOWIE KALIBRIERUNG DER AUFLÖSUNG (LOTPASTENAUFTRAG) MIT KAMERA UND OPTISCHEM SENSOR SOWIE UNABHÄNGIGER KALIBRIERMARKE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2001/088473    Internationale Anmeldenummer    PCT/DE2000/001563
Veröffentlichungsdatum: 22.11.2001 Internationales Anmeldedatum: 17.05.2000
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    14.12.2001    
IPC:
H05K 13/04 (2006.01), H05K 13/08 (2006.01)
Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, D-80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
BELLM, Hubert [DE/DE]; (DE) (For US Only).
LISTL, Ludwig [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: BELLM, Hubert; (DE).
LISTL, Ludwig; (DE)
Prioritätsdaten:
Titel (DE) INSPEKTION EINER DREIDIMENSIONALEN OBERFLÄCHENSTRUKTUR SOWIE KALIBRIERUNG DER AUFLÖSUNG (LOTPASTENAUFTRAG) MIT KAMERA UND OPTISCHEM SENSOR SOWIE UNABHÄNGIGER KALIBRIERMARKE
(EN) INSPECTION OF A THREE-DIMENSIONAL SURFACE STRUCTURE AND THE CALIBRATION OF ITS RESOLUTION (SOLDER PASTE DEPOSIT) USING A CAMERA, AN OPTICAL SENSOR AND AN INDEPENDENT CALIBRATION MARK
(FR) INSPECTION D"UNE STRUCTURE SUPERFICIELLE TRIDIMENSIONNELLE ET ETALONNAGE DE LA RESOLUTION (APPLICATION DE PATE DE BRASAGE) A L"AIDE D"UNE CAMERA. D"UN CAPTEUR OPTIQUE ET D"UN REPERE D"ETALONNAGE INDEPENDANT
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Inspektion einer dreidimensionalen Oberflächenstruktur sowie ein Kalibrierungsverfahren mit einer Kamera (8) zur Aufnahme eines zweidimensionalen Bildes und einem optischen Sensor (7) zur dreidimensionalen Vermessung eines zu inspizierenden Merkmals. Kamera (8) und optischer Sensor (7) sind in einer Sensoreinheit (6) zusammengefaßt. Eine unabhängig vom Prüfling (3) an der Inspektionseinrichtung befestigte Kalibriermarke (16) dient zur Kalibrierung der Lage und/oder der Auflösung der Kamera (8) sowie des optischen Sensors (7). Somit ist eine programmgesteuerte Kalibrierung möglich, ohne den Prüfling oder die Inspektionseinrichtung umrüsten zu müssen.
(EN)The invention relates to a device for inspecting a three-dimensional surface structure and to a calibration method using a camera (8) for recording a two-dimensional image and an optical sensor (7) for the three-dimensional measuring of a characteristic to be inspected. The camera (8) and optical sensor (7) are integrated in a sensor unit (6). A calibration mark (16), which is fixed to the inspection device independently of the test specimen (3) is used to calibrate the position and/or resolution of the camera (8) and of the optical sensor (7). This allows a programme-controlled calibration without having to reset the test specimen or inspection device.
(FR)L"invention concerne un dispositif permettant d"inspecter une structure superficielle tridimensionnelle, ainsi qu"un procédé d"étalonnage à l"aide d"une caméra (8) pour prendre une image en deux dimensions et d"un capteur optique (8) pour mesurer en trois dimensions une caractéristique à inspecter. La caméra (8) et le capteur optique (7) sont regroupés dans une unité de détection (6). Un repère d"étalonnage (16) fixé sur le dispositif d"inspection, indépendamment de l"ébauche (3), sert à étalonner la position et/ou la résolution de la caméra (8), ainsi que du capteur optique (7). Ce système permet d"effectuer des étalonnages contrôlés par programme, sans avoir à adapter l"ébauche ou le dispositif d"inspection.
Designierte Staaten: CN, JP, KR, SG, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)