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1. (WO2000075646) EINRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR ANALYSE ATOMARER UND/ODER MOLEKULARER ELEMENTE MITTELS WELLENLÄNGENDISPERSIVER, RÖNTGENSPEKTROMETRISCHER EINRICHTUNGEN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

Veröff.-Nr.: WO/2000/075646 Internationale Anmeldenummer PCT/DE2000/001817
Veröffentlichungsdatum: 14.12.2000 Internationales Anmeldedatum: 03.06.2000
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen: 07.11.2000
IPC:
G01N 23/223 (2006.01) ,G21K 1/06 (2006.01)
G Physik
01
Messen; Prüfen
N
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
23
Untersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Anwendung von Wellen- oder Teilchenstrahlung, soweit nicht von G01N21/ oder G01N22/177
22
durch Messen der Sekundäremission
223
mittels Bestrahlung der Probe mit Röntgenstrahlen und Messung der Röntgenstrahlfluoreszenz
G Physik
21
Kernphysik; Kerntechnik
K
Verfahren und Vorrichtungen zur Handhabung von Teilchen oder ionisierender Strahlung, soweit nicht anderweitig vorgesehen; Bestrahlungsvorrichtungen; Gamma- oder Röntgenstrahlmikroskope
1
Anordnungen zur Handhabung von ionisierender Strahlung oder von Teilchen, z.B. Fokussieren oder Moderieren
06
unter Anwendung von Beugung, Brechung oder Reflexion, z.B. Monochromatoren
Anmelder: MICHAELSEN, Carsten[DE/DE]; DE (UsOnly)
BORMANN, Rüdiger[DE/DE]; DE (UsOnly)
GKSS-FORSCHUNGSZENTRUM GEESTHACHT GMBH[DE/DE]; Max-Planck-Strasse D-21502 Geesthacht, DE (AllExceptUS)
Erfinder: MICHAELSEN, Carsten; DE
BORMANN, Rüdiger; DE
Vertreter: NIEDMERS & SEEMANN; Van-der-Smissen-Strasse 3 D-22767 Hamburg, DE
Prioritätsdaten:
199 26 056.708.06.1999DE
Titel (EN) DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING ATOMIC AND/OR MOLECULAR ELEMENTS BY MEANS OF WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY SPECTROMETRIC DEVICES
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE POUR ANALYSER DES ELEMENTS ATOMIQUES ET/OU MOLECULAIRES AU MOYEN D'UNITES DE SPECTROMETRIE DE RAYONS X, DISPERSIVES EN LONGUEUR D'ONDE
(DE) EINRICHTUNG UND VERFAHREN ZUR ANALYSE ATOMARER UND/ODER MOLEKULARER ELEMENTE MITTELS WELLENLÄNGENDISPERSIVER, RÖNTGENSPEKTROMETRISCHER EINRICHTUNGEN
Zusammenfassung:
(EN) The invention relates to a device (10) and a method for analyzing atomic and/or molecular elements by means of wavelength dispersive, x-ray spectrometric devices or methods, comprising a mirror or focusing device (11) having at least one layer consisting of a multilayer (12), whereby fluorescence radiation (16) induced by a sample (14) to be analyzed by means of the incident x-rays or electron rays (15) is guided to the mirror or focusing device (11) before impacting the measuring and analysis detector (17). The planar multilayer (12) is formed by at least one pair of layers (131, 132) consisting of a lanthanum layer and a boron carbide layer (B4C) to which the fluorescence rays are guided and in which they are reflected.
(FR) L'invention concerne un dispositif (10) et un procédé pour analyser des éléments atomiques et/ou moléculaires au moyen d'unités de spectrométrie de rayons x, dispersives en longueur d'onde, ou de procédés correspondants. Le dispositif selon l'invention présente au moins une unité de réflexion et de focalisation (11) présentant une couche (12) constituée elle-même de plusieurs couches. Selon l'invention, les faisceaux électroniques (16) induits par un échantillon à analyser (14) par l'intermédiaire de faisceaux électroniques primaires incidents (15) sont guidés sur l'unité de réflexion et de focalisation (11) avant d'arriver sur un détecteur de mesure ou d'analyse. La couche (12) plane est formée par au moins une paire de couches (131, 132) constituée d'une couche de lanthane et d'une couche de carbure de bore (B4C) sur laquelle les rayons fluorescents sont guidés avant d'y être réfléchis.
(DE) Es wird eine Einrichtung (10) und ein Verfahren zur Analyse atomarer und/oder molekularer Elemente mittels wellenlängendispersiver, röntgenspektrometrischer Einrichtungen bzw. Verfahren vorgeschlagen, umfassend wenigstens eine eine Multilayerschicht (12) aufweisende Spiegel- oder Fokussierungseinrichtung (11), insbesondere bei einer solchen Einrichtung bzw. einem solchen Verfahren, bei der bzw. bei dem von einer zu analysierenden Probe (14) durch einfallende primäre Röntgen- oder Elektronenstrahlen (15) induzierte Fluoreszenzstrahlen (16) vor Auftreffen auf einem Meß- oder Analysedetektor (17) auf die Spiegel- oder Fokussierungseinrichtung (11) geleitet wird. Dabei wird die flächenförmige Multilayerschicht (12) durch wenigstens ein Schichtenpaar (131, 132) aus einer Lanthanschicht (La-Schicht) und aus einer Borcarbidschicht (B4C) gebildet, auf die die Fluoreszenzstrahlen geleitet und von dort reflektiert werden.
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Designierte Staaten: US
Europäisches Patentamt (EPO) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
Veröffentlichungssprache: Deutsch (DE)
Anmeldesprache: Deutsch (DE)