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1. (WO2000072078) VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR LAGEERFASSUNG EINER MIT EINEM LASER-SCANNER ABZUTASTENDEN EBENE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2000/072078    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP2000/004493
Veröffentlichungsdatum: 30.11.2000 Internationales Anmeldedatum: 18.05.2000
IPC:
G05B 19/402 (2006.01), G05D 3/12 (2006.01)
Anmelder: CARL ZEISS JENA GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10, D-07745 Jena (DE) (For All Designated States Except US).
MÜHLHOFF, Dirk [DE/DE]; (DE) (For US Only).
RUDOLPH, Günther [DE/DE]; (DE) (For US Only).
SCHMIDT, Stefan [DE/DE]; (DE) (For US Only).
DÖRING, Gerhard [DE/DE]; (DE) (For US Only).
BERTHEL, Günter [DE/DE]; (DE) (For US Only).
HARTMANN, Thomas [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: MÜHLHOFF, Dirk; (DE).
RUDOLPH, Günther; (DE).
SCHMIDT, Stefan; (DE).
DÖRING, Gerhard; (DE).
BERTHEL, Günter; (DE).
HARTMANN, Thomas; (DE)
Allgemeiner
Vertreter:
CARL ZEISS JENA GMBH; Carl-Zeiss-Promenade 10, D-07745 Jena (DE)
Prioritätsdaten:
199 23 821.9 19.05.1999 DE
Titel (DE) VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR LAGEERFASSUNG EINER MIT EINEM LASER-SCANNER ABZUTASTENDEN EBENE
(EN) METHOD AND ARRAY FOR DETECTING THE POSITION OF A PLANE SCANNED WITH A LASER SCANNER
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR DETECTER LA POSITION D'UN PLAN A EXPLORER PAR BALAYAGE AU LASER
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Anordnung zur Lageerfassung der abzutastenden Ebene XY eines Objektes und zu deren Positionierung in der Fokusebene X'Y' eines Laser-Scanners, vorzugsweise für ein Laser-Scan-Mikroskop. Erfindungsgemäß ist bei einem Verfahren der eingangs beschriebenen Art vorgesehen, daß nach einer Grobausrichtung des Objektes, die mit dem Auflegen auf eine Objekthalterung erfolgt, zeitlich nacheinander auf mindestens drei verschiedene, in der abzutastenden Ebene XY des Objektes liegende Punkte P¿1?, P¿2?...P¿n? ein Laserstrahl gelenkt und dabei jeweils die von den Punkten P¿1?, P¿2?...P¿n? ausgehenden Reflexe auf einen positionsempfindlichen Detektor abgebildet werden, dort für jeden der Reflexe ein Ist-Positionswert ermittelt und dieser mit einem gespeicherten Soll-Positionswert verglichen wird, aus den Abweichungen der Ist- von den Soll-Positionswerten Stellbefehle zur Neigungsänderung der Objekthalterung gewonnen und auf der Grundlage dieser Stellbefehle die Neigungsänderung der Objekthalterung soweit veranlaßt wird, bis sich die Punkte P¿1?, P¿2?...P¿n? in der Fokusebene X'Y' des Laserscanners befinden.
(EN)The invention relates to a method and an array for detecting an XY plane to be scanned of an object and its positioning in the X'Y' focus plane of a laser scanner, preferably for a laser scan microscope. According to the said method, after roughly orienting the object, which is effected by placing the object in an object holder, a laser ray is directed successively to at least three different points (P1, P2...Pn) located in the XY plane of the object to be scanned. The reflections from points P1, P2...Pn are then reproduced in a position-sensitive detector, wherein an actual position value is determined for each reflection, said value being then compared with a stored set position value. Control commands for changing the inclination of the object holder are obtained from the deviations between the actual position values and the set positions values. The inclination of the object holder is changed on the basis of said control commands until points P1, P2...Pn are located in the X'Y' focus plane of the laser scanner.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif pour détecter la position du plan à explorer XY d'un objet et son positionnement dans le plan de focalisation X'Y' d'un scanner au laser, de préférence pour un microscope à balayage laser. Le procédé selon l'invention est caractérisé en ce qu'après avoir orienté grossièrement l'objet, ce qui s'effectue sur un porte-objet, un faisceau laser est dirigé successivement sur au moins trois points différents P¿1?, P¿2?...P¿n?, situés dans le plan à explorer XY de l'objet, en ce que les réflexions respectives en provenance des points P¿1?, P¿2?...P¿n? sont reproduites sur un détecteur sensible aux positions, où l'on détermine, pour chacune des réflexions, une valeur de position réelle, en ce qu'on compare cette valeur avec une valeur de position prescrite mémorisée, en ce qu'à partir des écarts entre les valeurs de position réelles et les valeurs de position prescrites, des instructions de réglage sont obtenues en vue de modifier l'inclinaison du porte-objet, et en ce que, sur la base de ces instructions de réglage, on fait varier l'inclinaison du porte-objet jusqu'à ce que les points P¿1?, P¿2?...P¿n? se trouvent dans le plan de focalisation X'Y' du scanner au laser.
Designierte Staaten: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)