WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Suche
 
Durchsuchen
 
Übersetzen
 
Optionen
 
Aktuelles
 
Einloggen
 
Hilfe
 
Maschinelle Übersetzungsfunktion
1. (WO2000063711) SCHALTUNG MIT EINGEBAUTEM SELBSTTEST
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/2000/063711    Internationale Anmeldenummer    PCT/DE2000/001052
Veröffentlichungsdatum: 26.10.2000 Internationales Anmeldedatum: 05.04.2000
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    13.10.2000    
IPC:
G01R 31/317 (2006.01), G01R 31/3185 (2006.01), G01R 31/3187 (2006.01)
Anmelder: INFINEON TECHNOLOGIES AG [DE/DE]; St.-Martin-Strasse 53, D-81541 München (DE) (For All Designated States Except US).
NOLLES, Jürgen [DE/DE]; (DE) (For US Only).
DIRSCHERL, Gerd [DE/DE]; (DE) (For US Only).
GÄRTNER, Wolfgang [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: NOLLES, Jürgen; (DE).
DIRSCHERL, Gerd; (DE).
GÄRTNER, Wolfgang; (DE)
Vertreter: Infineon Technologies AG; c/o EPPING, HERMANN & FISCHER, Postfach 12 10 26, 80034 München (DE)
Prioritätsdaten:
199 17 884.4 20.04.1999 DE
Titel (DE) SCHALTUNG MIT EINGEBAUTEM SELBSTTEST
(EN) CIRCUIT WITH BUILT-IN SELF-TESTER
(FR) CIRCUIT A AUTOTEST INTEGRE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft eine Schaltung mit eingebautem Selbsttest, wobei unter Verwendung einer fest vorgegebenen Standard-Schnittstelle (S1) eine verbesserte Testabdeckung einer zu testenden Logikschaltung (LM) durchzuführen ist. Die komplexe Schaltung (1) besitzt hierfür neben einer direkten Schnittstelle (S2) eine weitere indirekte Schnittstelle (S3), die eine strukturelle Testeinrichtung (ST) mit einer Funktionsschaltung (FS) verbindet.
(EN)The invention relates to a circuit with a built-in self-tester, wherein improved test coverage of a logical circuit (LM) to be tested is carried out using a fixed predetermined standard interface (S1). To this end, the complex circuit (1) has a direct interface (S2) and an additional indirect interface (S3) connecting a structural testing device (ST) to a functional circuit (FS).
(FR)L'invention concerne un circuit à autotest intégré. Une interface standard (S1) prédéterminée de manière fixe permet d'améliorer la couverture de test d'un circuit logique à tester (LM). Le circuit complexe (1) présente à cet effet, outre une interface directe (S2), une interface indirecte (S3), qui permet à une unité de test structurelle (ST) de communiquer avec un circuit fonctionnel (FS).
Designierte Staaten: BR, CN, IN, JP, KR, MX, RU, UA, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)