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1. WO2000033242 - BAUELEMENT ALS SENSOR UND HERSTELLUNGSVERFAHREN

Veröffentlichungsnummer WO/2000/033242
Veröffentlichungsdatum 08.06.2000
Internationales Aktenzeichen PCT/DE1999/003837
Internationales Anmeldedatum 01.12.1999
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen 26.05.2000
IPC
A61B 5/1172 2016.01
ATäglicher Lebensbedarf
61Medizin oder Tiermedizin; Hygiene
BDiagnostik; Chirurgie; Identifizierung
5Messen zu diagnostischen Zwecken; Identifizieren von Personen
117Identifizieren von Personen
1171basierend auf der Gestalt oder der Erscheinung ihrer Körper oder Körperteile
1172unter Verwendung von Fingerabdrücken
G01B 7/004 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
7Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung von elektrischen oder magnetischen Messmitteln
004zum Messen der Koordinaten von Punkten
G01B 7/287 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
7Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung von elektrischen oder magnetischen Messmitteln
28zum Messen von Umrisslinien oder Krümmungen
287mit einer Vielzahl von festen, gleichzeitig arbeitenden Übertragern
G01B 7/34 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
7Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung von elektrischen oder magnetischen Messmitteln
34zum Messen der Rauheit oder der Unregelmäßigkeit von Oberflächen
G01R 27/26 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
RMessen elektrischer Größen; Messen magnetischer Größen
27Anordnungen zum Messen des Widerstandes, des Blindwiderstandes, des Scheinwiderstandes oder davon abgeleiteter elektrischer Kenngrößen
02Messen des reellen oder des komplexen Widerstandes, des Blindwiderstandes, des Scheinwiderstandes oder anderer davon abgeleiteter Zweipolkenngrößen, z.B. Zeitkonstante
26Messen von Induktivität oder Kapazität; Messen der Güte, z.B. mit Hilfe des Resonanzverfahrens; Messen des Verlustfaktors; Messen der Dielektrizitätskonstante
G06K 9/00 2006.01
GPhysik
06Datenverarbeitung; Rechnen oder Zählen
KErkennen von Daten; Darstellen von Daten; Aufzeichnungsträger; Handhabung von Aufzeichnungsträgern
9Verfahren oder Anordnungen zum Lesen oder Erkennen gedruckter oder geschriebener Zeichen oder zum Erkennen von Mustern, z.B. Fingerabdrücken
CPC
A61B 5/1172
AHUMAN NECESSITIES
61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
5Detecting, measuring or recording for diagnostic purposes
117Identification of persons
1171based on the shapes or appearances of their bodies or parts thereof
1172using fingerprinting
G01B 7/004
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
7Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic means
004for measuring coordinates of points
G01B 7/287
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
7Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic means
28for measuring contours or curvatures
287using a plurality of fixed, simultaneously operating transducers
G01B 7/34
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
7Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic means
34for measuring roughness or irregularity of surfaces
G01R 27/2635
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
27Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
26Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; ; Measuring impedance or related variables
2617Measuring dielectric properties, e.g. constants
2635Sample holders, electrodes or excitation arrangements, e.g. sensors or measuring cells
G06K 9/00053
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
KRECOGNITION OF DATA; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
9Methods or arrangements for reading or recognising printed or written characters or for recognising patterns, e.g. fingerprints
00006Acquiring or recognising fingerprints or palmprints
00013Image acquisition
00053Protecting the fingerprint sensor against damage caused by the finger
Anmelder
  • INFINEON TECHNOLOGIES AG [DE/DE]; St.-Martin-Strasse 53 D-81541 München, DE (AllExceptUS)
  • BASSE, VON, Paul-Werner [DE/DE]; DE (UsOnly)
  • WILLER, Josef [DE/DE]; DE (UsOnly)
Erfinder
  • BASSE, VON, Paul-Werner; DE
  • WILLER, Josef; DE
Gemeinsamer Vertreter
  • Infineon Technologies AG; c/o ZIMMERMANN & PARTNER Postfach 330 920 D-80069 München, DE
Prioritätsdaten
198 55 603.902.12.1998DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) BAUELEMENT ALS SENSOR UND HERSTELLUNGSVERFAHREN
(EN) COMPONENT USED AS A SENSOR AND PRODUCTION METHOD
(FR) COMPOSANT UTILISE COMME DETECTEUR ET PROCEDE DE FABRICATION
Zusammenfassung
(DE)
Kapazitiver Sensor mit Leiterflächen (4) in Material (3, 5) kleiner Dielektrizitätszahl zur Verringerung von Streukapazitäten. Die Kapazitäten zur Oberseite (1) und damit die Empfindlichkeit sind durch Material größerer Dielektrizitätszahl (2) vergrößert. Die Grenzfläche zwischen den unterschiedlichen Materialien ist so geformt, daß das Material größerer Dielektrizitätszahl einen zu den Leiterflächen hin konvex begrenzten Schichtanteil bildet. Hergestellt wird ein solcher Sensor, indem durch eine Maskenöffnung Material kleiner Dielektrizitätszahl entfernt wird und die Aussparungen mit Material größerer Dielektrizitätszahl eingeebnet werden.
(EN)
The invention relates to a capacitive sensor comprising conducting surfaces (4) in material (3, 5) of a small dielectric constant in order to reduce stray capacitances. The capacitances to the upper side (1) and thus the sensitivity are increased by material of a larger dielectric constant (2). The contact surface between the different materials is shaped in such a way that the material of a larger dielectric constant forms a limited layer portion which is convex toward the conducting surfaces. A sensor of this type is produced by removing material of a small dielectric constant through a mask opening, and the recesses are leveled with material of a larger dielectric constant.
(FR)
L'invention concerne un détecteur capacitif à surfaces conductrices (4) dans un matériau (3, 5) de faible constante diélectrique en vue de réduire les capacités de dispersion. Les capacités à la partie supérieure (1) et, par conséquent, la sensibilité, sont accrues par un matériau de plus grande constante diélectrique (2). L'interface entre les différents matériaux est configurée de telle façon que le matériau de constante diélectrique plus élevée forme une portion de couche limitée convexe en direction des surfaces conductrices. Un tel détecteur est fabriqué en éliminant, à travers une ouverture de masquage, du matériau de faible constante diélectrique et en aplanissant les évidements avec du matériau de constante diélectrique plus élevée.
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten