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1. WO2000033150 - VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR REDUKTION EINER ANZAHL VON MESSWERTEN EINES TECHNISCHEN SYSTEMS

Veröffentlichungsnummer WO/2000/033150
Veröffentlichungsdatum 08.06.2000
Internationales Aktenzeichen PCT/DE1999/003834
Internationales Anmeldedatum 01.12.1999
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen 12.04.2000
IPC
G05B 23/02 2006.01
GPhysik
05Steuern; Regeln
BSteuer- oder Regelsysteme allgemein; funktionelle Elemente solcher Systeme; Überwachungs- oder Prüfanordnungen für solche Systeme oder Elemente
23Prüfen oder Überwachen von Steuer- oder Regelsystemen oder ihrer Teile
02Elektrisches Prüfen oder Überwachen
CPC
G05B 23/0221
GPHYSICS
05CONTROLLING; REGULATING
BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
23Testing or monitoring of control systems or parts thereof
02Electric testing or monitoring
0205by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
0218characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
0221Preprocessing measurements, e.g. data collection rate adjustment; Standardization of measurements; Time series or signal analysis, e.g. frequency analysis or wavelets; Trustworthiness of measurements; Indexes therefor; Measurements using easily measured parameters to estimate parameters difficult to measure; Virtual sensor creation; De-noising; Sensor fusion; Unconventional preprocessing inherently present in specific fault detection methods like PCA-based methods
Anmelder
  • SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2 D-80333 München, DE (AllExceptUS)
  • SCHÄFFLER, Stefan [DE/DE]; DE (UsOnly)
  • STURM, Thomas [DE/DE]; DE (UsOnly)
Erfinder
  • SCHÄFFLER, Stefan; DE
  • STURM, Thomas; DE
Gemeinsamer Vertreter
  • SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT; Postfach 22 16 34 D-80506 München, DE
Prioritätsdaten
198 55 877.503.12.1998DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR REDUKTION EINER ANZAHL VON MESSWERTEN EINES TECHNISCHEN SYSTEMS
(EN) METHOD AND DEVICE FOR REDUCING A NUMBER OF MEASURED VALUES OF A TECHNICAL SYSTEM
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LA REDUCTION D'UNE PLURALITE DE VALEURS MESUREES D'UN SYSTEME INDUSTRIEL
Zusammenfassung
(DE)
Es wird ein Verfahren zur Reduktion einer Anzahl von Meßwerten eines technischen Systems angegeben, bei dem die Meßwerte entsprechend vorgegebenen Kriterien in Klassen eingeteilt werden. Die Meßwerte einer Klasse werden bewertet und diejenigen Meßwerte, deren Bewertung unterhalb eines vorgegebenen ersten Schwellwertes liegt, werden aussortiert.
(EN)
The invention relates to a method for reducing a number of measured values of a technical system in which the criteria predetermined according to the measured values are divided into classes. The measured values of a class are evaluated and those measured values whose evaluation is less than a predetermined first threshold value are extracted.
(FR)
L'invention concerne un procédé pour la réduction d'une pluralité de valeurs mesurées d'un système industriel, dans lequel les critères prédéterminés correspondant aux valeurs mesurées sont répartis par classes. Les valeurs mesurées d'une classe sont évaluées, et les valeurs mesurées dont l'évaluation se situe au-dessous d'une valeur seuil prédéterminée sont extraites.
Auch veröffentlicht als
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