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1. WO2000031515 - MESSANORDNUNG ZUM PARALLELEN AUSLESEN VON SPR-SENSOREN

Veröffentlichungsnummer WO/2000/031515
Veröffentlichungsdatum 02.06.2000
Internationales Aktenzeichen PCT/EP1999/008977
Internationales Anmeldedatum 16.11.1999
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen 22.04.2000
IPC
G01N 21/27 2006.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
17Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
25Farbe; Spektraleigenschaften, d.h. Vergleich der Materialeffekte bei Licht von zwei oder mehr Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen
27mit fotoelektrischer Erfassung
G01N 21/552 2014.01
GPhysik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung infraroten, sichtbaren oder ultravioletten Lichts
17Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
55Reflexionsvermögen
552Abgeschwächte Totalreflexion
CPC
G01N 21/253
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
251Colorimeters; Construction thereof
253for batch operation, i.e. multisample apparatus
G01N 21/553
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
55Specular reflectivity
552Attenuated total reflection
553and using surface plasmons
Anmelder
  • GRAFFINITY PHARMACEUTICAL DESIGN GMBH [DE/DE]; Im Neuenheimer Feld 515 D-69120 Heidelberg, DE (AllExceptUS)
  • DICKOPF, Stefan [DE/DE]; DE (UsOnly)
  • SCHMIDT, Kristina [DE/DE]; DE (UsOnly)
  • VETTER, Dirk [DE/DE]; DE (UsOnly)
Erfinder
  • DICKOPF, Stefan; DE
  • SCHMIDT, Kristina; DE
  • VETTER, Dirk; DE
Vertreter
  • PFEIFFER, Rolf-Gerd; Pfeiffer & Partner Winzerlaer Strasse 10 D-07745 Jena, DE
Prioritätsdaten
198 54 370.020.11.1998DE
Veröffentlichungssprache Deutsch (DE)
Anmeldesprache Deutsch (DE)
Designierte Staaten
Titel
(DE) MESSANORDNUNG ZUM PARALLELEN AUSLESEN VON SPR-SENSOREN
(EN) SET-UP OF MEASURING INSTRUMENTS FOR THE PARALLEL READOUT OF SPR SENSORS
(FR) SYSTEME DE MESURE POUR SELECTION PARALLELE DE DETECTEURS PAR RESONANCE PLASMONIQUE DE SURFACE (SPR)
Zusammenfassung
(DE)
Die Erfindung betrifft eine Meßanordnung zum parallelen Auslesen von SPR-Sensoren. Die Aufgabe, eine solche Meßanordnung zum parallelen Auslesen einer Vielzahl von SPR-Sensoren anzugeben, bei der der Auslesevorgang innerhalb einer Meßzeit von weniger als dreißig Minuten beendet sein soll, wird dadurch gelöst, daß einer Beleuchtungsquelle (3) eine wellenlängenselektive Baugruppe (5) und ein optisches Abbildungssystem (L2, L3) nachgeordnet sind, wobei das optische Abbildungssystem (L2, L3) derart ausgelegt ist, daß es bei einer ersten Wellenlänge eine parallele Ausleuchtung der Lichteintrittsseiten von mit SPR-fähigen Sensorgebieten versehenen Wellenleitern (13) gewährleistet und das aus den einzelnen Lichtwellenleitern (13) austretende Licht zeitgleich auf einen CCD-Chip (20) über eine Optik (L4) derart abbildbar ist, daß das von jedem einzelnen Lichtwellenleiter (13) ausgehende Licht von jeweils mehreren benachbarten CCD-Pixeln des CCD-Chips (20) erfaßbar ist und mittels einer Bildverarbeitungssoftware aus diesen Pixelbereichen jeweils ein Lichtintensitätswert errechenbar und nach Datenspeicherung von Intensitätswert, eingestellter Wellenlänge und Koordinate im Wellenleiterarray (10) mittels eines Computers (30) über eine Steuerleitung (31) eine Verstellung der wellenlängenselektiven Baugruppe (5) auf eine zweite und beliebig vorgebbare weitere Lichtwellenlänge vornehmbar ist.
(EN)
The invention relates to a set-up of measuring instruments for the parallel readout of SPR sensors. The aim of the invention is to provide a measuring arrangement for the parallel readout of a plurality of SPR sensors wherein the readout process should be terminated within an integration period of less than 30 minutes. To this end, a wavelength-selective component (5) and an optical imaging system (L2, L3) are arranged downstream of a light source (3). Said optical imaging system (L2, L3) is designed in such a manner that at a first wavelength it guarantees a parallel illumination of the light incidence ends of waveguides (13) which are provided with SPR-compatible sensor zones and that the light emitted from the individual optical waveguides (13) can be simultaneously imaged onto a CCD chip (20) via an optical device (L4) in such a way that the light emitted by every single optical waveguide (13) can be detected by a respective plurality of adjacent CCD pixels of the CCD chip (20). A light intensity value can be calculated from these pixel arrays by means of an image processing software. Once the intensity value, adjusted wavelength and coordinate in the waveguide array (10) is stored by a memory (30) via a control line (31), the wavelength-selective component (5) can be adjusted to a second and freely selectable further optical wavelength.
(FR)
L'invention concerne un système de mesure pour sélection parallèle de détecteurs SPR. L'invention vise à mettre au point un système de mesure de ce type, permettant de sélectionner une pluralité de détecteurs SPR. Le processus de sélection doit intervenir en un temps de mesure inférieur à trente minutes. A cet effet, un bloc de composants (5) à longueur d'ondes sélective et un système de représentation optique (L2, L3) sont montés en aval d'une source d'éclairage (3). Le système de représentation optique (L2, L3) se présente de manière que pour une première longueur d'ondes, un éclairage parallèle des faces d'incidence de la lumière soit assuré par des guides d'ondes (13) munis de zones de détection se prêtant à la résonance plasmonique de surface. La lumière provenant des fibres optiques (13) individuelles peut être représentée simultanément sur une puce à CCD par l'intermédiaire d'un système optique (L4), de manière que la lumière provenant de chaque fibre optique (13) individuelle, puisse être détectée par chacun des nombreux pixels à CCD adjacents de la puce à CCD (20) et que dans chaque cas, une valeur d'intensité lumineuse puisse être dérivée de ces zones de pixel, à l'aide d'un logiciel de traitement d'image. Après mémorisation de la valeur d'intensité, de la longueur d'onde ajustée et des cordonnées dans le réseau de guides d'ondes (10) au moyen d'un ordinateur (30), par l'intermédiaire d'une ligne de commande (31), il est possible d'ajuster le bloc de composants (5) à longueur d'ondes sélective à une seconde longueur d'ondes pouvant être prédéterminée librement.
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