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1. (WO1999066309) POLARIMETRISCHES VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER (HAUPT-) SCHWINGUNGSEBENE POLARISIERTEN LICHTS AUF ETWA 0,1 m° UND MINIATURISIERBARE VORRICHTUNG ZU SEINER DURCHFÜHRUNG
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/1999/066309    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP1999/004015
Veröffentlichungsdatum: 23.12.1999 Internationales Anmeldedatum: 11.06.1999
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    03.12.1999    
IPC:
G01J 4/04 (2006.01)
Anmelder: GLUKOMEDITECH AG [DE/DE]; Alfred-Herrhausen-Strasse 44, D-58455 Witten (DE) (For All Designated States Except US).
PÖTZSCHKE, Harald [DE/DE]; (DE) (For US Only).
BARNIKOL, Wolfgang [DE/DE]; (DE) (For US Only).
ZIRK, Kai [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: PÖTZSCHKE, Harald; (DE).
BARNIKOL, Wolfgang; (DE).
ZIRK, Kai; (DE)
Vertreter: BEIL, Hans; Hansmann & Vogeser, Adelonstrasse 58, D-65929 Frankfurt am Main (DE)
Prioritätsdaten:
198 26 294.9 12.06.1998 DE
Titel (DE) POLARIMETRISCHES VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG DER (HAUPT-) SCHWINGUNGSEBENE POLARISIERTEN LICHTS AUF ETWA 0,1 m° UND MINIATURISIERBARE VORRICHTUNG ZU SEINER DURCHFÜHRUNG
(EN) POLARIMETRIC METHOD FOR DETERMINING THE (MAIN-)OSCILLATION PLANE OF POLARISED LIGHT ON ABOUT 0.1 m° AND MINIATURISABLE DEVICE FOR ITS IMPLEMENTATION
(FR) PROCEDE POLARIMETRIQUE POUR LA DETERMINATION DU PLAN D'OSCILLATION (PRINCIPAL) DE LA LUMIERE POLARISEE SUR ENVIRON 0,1 m°, ET DISPOSITIF MINIATURISABLE POUR SA MISE EN OEUVRE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Bei einem Verfahren bzw. einer Vorrichtung zur sehr genauen Bestimmung der Schwingungsebene polarisierten Lichtes wird das Licht einer Lichtquelle (1) mit Hilfe eines Polarisationsfilters (2), das einen bestimmten Einstellwinkel $g(u)¿0? zur ersten Bezugsebene, der Einfallsebene auf der reflektierenden Oberfläche (4) besitzt, polarisiert. Der polarisierte Strahl (12) durchdringt das Messgut in der Messkammer (3), hierbei verändert sich der Drehwinkel um den kleinen Winkel $g(u)¿MG?. Die Summe von $g(u)¿0? und $g(u)¿MG? gibt den Drehwinkel $g(u)¿e?, mit welchem der aus der Messkammer austretende Strahl (13) an der Oberfläche eines optisch dichteren Mediums (4) teilweise reflektiert wird. Der reflektierte Teilstrahl wird anschliessend in einem Polarisations-Prisma (5), dessen Bezugsebene, die Schwingungsebene des Ordentlichen Strahls, einen bestimmten Einstellwinkel ($g(u)*) zur ersten Bezugsebene hat, in zwei Teilstrahlen (15a: Ausserordentlicher Strahl; 15b: Ordentlicher Strahl) zerlegt, deren Schwingungsebenen genau senkrecht zueinander stehen. Die Intensitäten I¿0? und I¿a? der beiden Teilstrahlen werden photometrisch durch Detektoren (6a, 6b) bestimmt und der Quotient (Q) der gemessenen Intensitäten gebildet (Quotientenbildner: 8).
(EN)The invention relates to a method and a device for accurate determination of the oscillation plane of polarised light. According to said method, the light of a light source (1) is polarised by means of a polarisation filter (2) having an adjustment angle $g(u)¿0? determined relatively to the first reference plane, i.e. the incidence plane on the reflecting surface (4). The polarised beam (12) penetrates the object to be measured in the measuring chamber (3) and the rotation angle varies by a low angular value $g(u)¿MG?. The sum of $g(u)¿0? and $g(u)¿MG? is equal to the rotation angle $g(u)¿e? with which the beam (13) exiting the measuring chamber is partially reflected on the surface of an optically thicker medium (4). The partially reflected beam is then decomposed into two partial beams (15a: extraordinary beam, 15b: ordinary beam) in a polarisation prism (5) having a reference plane, i.e. the oscillation plane of the ordinary beam, with an adjustment angle ($g(u)*) determined relatively to the first reference plane, the two partial beams having oscillation planes which are exactly perpendicular to one another. The intensities I¿0? et I¿a? of the two partial beams are determined photometrically by means of two detectors (6a, 6b) and the ratio (Q) of the measured intensities is formed (ratio builder: 8).
(FR)Dans un procédé et un dispositif pour la détermination très précise du plan d'oscillation de la lumière polarisée, la lumière d'une source de lumière (1) est polarisée à l'aide d'un filtre de polarisation (2) présentant un angle de réglage $g(u)¿o? déterminé par rapport au premier plan de référence, à savoir le plan d'incidence sur la surface (4) réfléchissante. Le faisceau polarisé (12) traverse l'objet à mesurer dans la chambre de mesure (3), et l'angle de rotation varie alors d'une faible valeur angulaire $g(u)¿MG?. La somme de $g(u)¿o? et de $g(u)¿MG? donne l'angle de rotation $g(u)¿e? avec lequel le faisceau (13) sortant de la chambre de mesure est réfléchi partiellement au niveau de la surface d'un milieu (4) optiquement plus dense. Le faisceau partiel réfléchi est ensuite décomposé, dans un prisme de polarisation (5) dont le plan de référence, à savoir le plan d'oscillation du rayon ordinaire, présente un angle de réglage ($g(u)?*¿) déterminé par rapport au premier plan de référence, en deux rayons partiels (15a: rayon extraordinaire, 15b: rayon ordinaire) dont les plans d'oscillation sont exactement perpendiculaires l'un à l'autre. Les intensités I¿o? et I¿a? des deux rayons partiels sont déterminées par voie photométrique au moyen de détecteurs (6a, 6b) et le quotient (Q) des intensités mesurées est formé (formateur de quotient: 8).
Designierte Staaten: AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CU, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SL, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, US, UZ, VN, YU, ZW.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SL, SZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)