WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Suche
 
Durchsuchen
 
Übersetzen
 
Optionen
 
Aktuelles
 
Einloggen
 
Hilfe
 
Maschinelle Übersetzungsfunktion
1. (WO1999062313) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR SCHRÄGLAGENPRÜFUNG UND/ODER KOPLANARITÄTSPRÜFUNG EINER KONTAKTREIHE VON SMD-BAUELEMENTEN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/1999/062313    Internationale Anmeldenummer    PCT/DE1999/001240
Veröffentlichungsdatum: 02.12.1999 Internationales Anmeldedatum: 27.04.1999
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    18.11.1999    
IPC:
G01B 11/24 (2006.01), G01B 11/30 (2006.01), H05K 13/04 (2006.01), H05K 13/08 (2006.01)
Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, D-80333 München (DE)
Erfinder: WACKER, Josef; (DE).
GRASMÜLLER, Hans-Horst; (DE)
Prioritätsdaten:
198 23 942.4 28.05.1998 DE
Titel (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR SCHRÄGLAGENPRÜFUNG UND/ODER KOPLANARITÄTSPRÜFUNG EINER KONTAKTREIHE VON SMD-BAUELEMENTEN
(EN) METHOD AND DEVICE FOR CHECKING THE OBLIQUE POSITION OR COPLANARITY OF A CONTACT BANK OF SMD COMPONENTS
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR VERIFIER LA POSITION INCLINEE ET/OU LA COPLANARITE D'UN BANC DE CONTACTS DE COMPOSANTS MONTES EN SURFACE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Bekannte Verfahren zur Koplanaritätsprüfung von SMD-Bauelementen (1) untersuchen einzelne Kontakte durch Reflexionsverfahren oder Schattenwurfverfahren und sind daher sehr zeitintensiv. Erfindungsgemäß wird eine gesamte Kontaktreihe (2, 10, 13, 15) in Richtung der Kontaktreihe (2, 10, 13, 15) beleuchtet und der Schatten der gesamten Kontaktreihe (2, 10, 13, 15) auf einem Zeilensensor (5) detektiert. Eine Verschiebung der Kontaktreihe (2, 10, 13, 15) senkrecht zur von ihr gebildeten Kontaktfläche (7) bewirkt eine Verschiebung der Position (h) des Schattens auf dem Zeilensensor (5) sowie eine Veränderung der Ausdehnung (H) des Schattens. Durch die Bestimmung der minimalen Ausdehnung (Hm1..3) des Schattens ergibt sich aus der minimalen Ausdehnung (Hm1..3) selbst ein Maß für die Koplanarität der Kontaktreihe (2, 10, 13, 15) und aus der Position (hm1..3) des Schattens mit der minimalen Ausdehnung (Hm1..3) eine Angabe über die Schräglage des Bauelements (1).
(EN)Known methods for checking coplanarity of SMD components (1) verify individual contacts using a reflection method or a shadow-casting method and are therefore very time-consuming. According to the invention, an entire contact bank (2, 10, 13, 15) is illuminated in the direction of the contact bank (2, 10, 13, 15) and the shadow of the entire contact bank (2, 10, 13, 15) is detected in a line detector (5). Displacement of the contact bank (2, 10, 13, 15) causes the position (h) of the shadow on the line sensor (5) to be displaced and a change in the expansion (H) of the shadow. By determining the minimal expansion (Hm1..3) of the shadow, a quantity for the coplanarity of the contact bank (2, 10, 13, 15) is obtained from the minimal expansion (Hm1..3) itself and a data regarding the oblique position of the component (1) from the position (hm1..3) of the shadow with the minimal expansion (Hm1..3).
(FR)Les procédés connus de vérification de la coplanarité de composants montés en surface (1) vérifient des contacts individuels par réflexion ou par projection d'ombre et requièrent de ce fait beaucoup de temps. Selon l'invention, un banc de contacts entier (2, 10, 13, 15) est éclairé dans le sens dudit banc de contact (2, 10, 13, 15) et l'ombre du banc de contacts entier (2, 10, 13, 15) est détectée sur un détecteur de ligne (5). Un déplacement du banc de contacts (2, 10, 13, 15) perpendiculairement à la surface de contact (7) qu'il forme entraîne un déplacement de la position (h) de l'ombre sur le détecteur de ligne (5), ainsi qu'une modification de l'extension (H) de ladite ombre. Le fait de déterminer l'extension minimale (Hm1..3) de l'ombre permet d'en dériver une grandeur pour la coplanarité du banc de contacts (2, 10, 13, 15) et une indication sur la position inclinée du composant (1) peut être dérivée de la position (hm1..3) de l'ombre ayant l'extension minimale (Hm1..3).
Designierte Staaten: CN, JP, KR, SG.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)