WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Suche
 
Durchsuchen
 
Übersetzen
 
Optionen
 
Aktuelles
 
Einloggen
 
Hilfe
 
Maschinelle Übersetzungsfunktion
1. (WO1999038038) FLÄCHENMUSTER
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/1999/038038    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/EP1998/008492
Veröffentlichungsdatum: 29.07.1999 Internationales Anmeldedatum: 29.12.1998
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    11.08.1999    
IPC:
B42D 25/328 (2014.01), G02B 5/18 (2006.01), G06K 19/16 (2006.01)
Anmelder: OVD KINEGRAM AG [CH/CH]; Gubelstrasse 22, CH-6301 Zug (CH) (For All Designated States Except US).
STAUB, René [CH/CH]; (CH) (For US Only).
TOMPKIN, Wayne, Robert [US/CH]; (CH) (For US Only)
Erfinder: STAUB, René; (CH).
TOMPKIN, Wayne, Robert; (CH)
Prioritätsdaten:
190/98 27.01.1998 CH
Titel (DE) FLÄCHENMUSTER
(EN) SURFACE PATTERN
(FR) MOTIF DE SURFACE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Ein Flächenmuster ist aus mosaikartig angeordneten, mikroskopischen Reliefstrukturen aufweisenden Flächenelementen (1 bis 7) aufgebaut. Die wenigstens in erste und zweite Teilflächen (8; 9) eingeteilten Flächenelemente (2 bis 6) weisen in den ersten und zweiten Teilflächen (8; 9) beugungsoptisch wirksame asymmetrische Beugungsgitter (12; 13) auf, wobei in jedem eingeteilten Flächenelement (2 bis 6) benachbarte erste Teilflächen (8) durch wenigstens eine zweite Teilfläche (9) getrennt sind. Die Gittervektoren der asymmetrischen Beugungsgitter (12) der ersten Teilflächen (8) aller eingeteilten Flächenelemente (2 bis 6) besitzen den gleichen ersten Wert des Azimuts und die asymmetrischen Beugungsgitter (13) der zweiten Teilflächen (9) aller eingeteilter Flächenelemente (2 bis 6) den gleichen zweiten Wert des Azimuts. Die eingeteilten Flächenelemente (2 bis 6) sind entsprechend ihrem Flächenanteilswert A¿N? im Mosaik aller Flächenelemente (1 bis 7) angeordnet. Der Flächenanteilswert A¿N? des N-ten eingeteilten Flächenelements ist das Verhältnis der Summe aller ersten Teilflächen (8) zur Gesamtfläche aller ersten und zweiten Teilflächen (8; 9).
(EN)A surface pattern made from surface elements (1-7) with microscopic raised structures arranged in the form of a mosaic. The surface elements (2-6) arranged in at least a first and a second partial surface (8; 9) have optically diffractive, effective asymmetrical diffraction grids (12; 13). Adjacent first partial surfaces (8) in each divided surface element (2-6) are separated by at least one second partial surface (8; 9). The grid vectors of the asymmetrical diffraction grid (12) of the first partial surfaces (8) of all divided surface elements (2-6) have the same first azimuth value and the asymmetrical diffraction grid (13) of the second partial surfaces (9) of all of the divided surface elements (2-6) have the same azimuth value. The divided surface elements (2-6) are arranged according to the fractional value of the surface (A¿N?) in the mosaic of all surface elements (1-7). The fractional value of the surface (A¿N?) of the n-th divided surface element is equal to the ratio of the sum of all first partial surfaces (8) to the overall surface of all the first and second partial surfaces (8;9).
(FR)L'invention concerne un motif de surface constitué de surfaces élémentaires (1 à 7) présentant des structures en relief microscopiques disposées sous forme de mosaïque. Les surfaces élémentaires (2 à 6) divisées en premières et deuxièmes surfaces partielles (8; 9) présentent dans ces dernières des réseaux de diffraction (12, 13) asymétriques à action optique de diffraction, des premières surfaces partielles (8) voisines dans chaque surface élémentaire divisée (2 à 6) étant séparées par au moins une deuxième surface partielle (9). Les vecteurs des réseaux de diffraction asymétriques (12) des premières surfaces partielles (8) de toutes les surfaces élémentaires divisées (2 à 6) présentent la même première valeur de l'azimut, et les réseaux de diffraction asymétriques (13) des deuxièmes surfaces partielles (9) de toutes les surfaces élémentaires divisées (2 à 6) présentent la même deuxième valeur de l'azimut. Les surfaces élémentaires divisées (2 à 6) sont disposées conformément à leur valeur fractionnelle de surface A¿N? dans la mosaïque de toutes les surfaces élémentaires (1 à 7). La valeur fractionnelle de surface A¿N? de la n-e surface élémentaire divisée est égale au rapport de la somme de toutes les premières surfaces partielles (8) sur la surface totale de toutes les premières et deuxièmes surfaces partielles (8; 9).
Designierte Staaten: AU, CA, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)