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1. (WO1999010732) DIFFERENZ-THERMOANALYSE-VORRICHTUNG
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/1999/010732    Internationale Anmeldenummer    PCT/EP1998/005382
Veröffentlichungsdatum: 04.03.1999 Internationales Anmeldedatum: 25.08.1998
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    23.03.1999    
IPC:
G01N 25/48 (2006.01)
Anmelder: DEUTSCHES ZENTRUM FÜR LUFT- UND RAUMFAHRT E.V. [DE/DE]; D-53175 Bonn (DE) (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, JP, LU, MC, NL, PT, SE only).
SCHILZ, Jürgen [DE/DE]; (DE) (For US Only).
MÜLLER, Wolf, Eckhard [DE/DE]; (DE) (For US Only).
BÄHR, Gerhard [DE/DE]; (DE) (For US Only).
RAUSCHER, Lutz [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: SCHILZ, Jürgen; (DE).
MÜLLER, Wolf, Eckhard; (DE).
BÄHR, Gerhard; (DE).
RAUSCHER, Lutz; (DE)
Vertreter: HILLERINGMANN, Jochen; Bahnhofsvorplatz 1 (Deichmannhaus), D-50667 Köln (DE)
Prioritätsdaten:
97114734.3 26.08.1997 EP
197 56 072.5 17.12.1997 DE
Titel (DE) DIFFERENZ-THERMOANALYSE-VORRICHTUNG
(EN) DIFFERENTIAL THERMOANALYSIS DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE THERMIQUE DIFFERENTIELLE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Differenz-Thermoanalyse-Vorrichtung (10) dient der meßtechnischen Untersuchung oder Ermittlung eines Parameters einer Meßprobe, insbesondere von Phasenübergängen oder der spezifischen Wärme der Meßprobe, und ist versehen mit einer Wärmequelle (12) und einer mit dieser gekoppelten Sensorplatte (16), auf der eine Meßproben-Ankoppelzone (18) zur thermischen Ankopplung einer zu vermessenden Meßprobe (20) und eine Referenzproben-Ankoppelzone (22) zur thermischen Ankopplung einer Referenzprobe (24) mit einem bezüglich des zu untersuchenden oder zu messenden Parameters bekannten Verhalten ausgebildet sind. Die Sensorplatte (16) weist zumindest innerhalb ihrer Meßproben- und Referenzproben-Ankoppelzonen (18, 22) ein keramisches oder ein ein- oder polykristallines thermoelektrisches Halbleitermaterial auf.
(EN)According to the invention, the differential thermoanalysis arrangement (10) conducts the metrological examination or determination of a test sample parameter, especially of phase transitions or the specific heat of the test sample. The invention has a heat source (12) coupled a sensor plate (16) coupled thereto. A test sample coupling zone (18) for thermal coupling of a test sample (20) which is to be measured and a reference test coupling zone (22) for thermal coupling of a reference test (24) with a known behavior as regards the parameters which are to be examined or measured, are arranged on said sensor plate. The sensor plate (16) has at least one ceramic or one monocrystalline or polycrystalline thermoelectric semi-conducive material within its test sample coupling zone (18) and its reference test coupling zone (22).
(FR)Le dispositif d'analyse thermique différentielle (10) est utilisé, en métrologie, pour l'étude ou la détermination d'un paramètre d'un échantillon pour essai, en particulier pour la détermination de points de transition de phase ou de la chaleur spécifique de l'échantillon, et comprend une source de chaleur (12) et une plaque détectrice (16) accouplée à ladite source, sur laquelle sont formées une zone de couplage (18) avec l'échantillon pour essai, pour le couplage thermique d'un échantillon à mesurer (20), et une zone de couplage (22) avec l'échantillon de référence, pour le couplage thermique d'un échantillon de référence (24) ayant un comportement connu en ce qui concerne le paramètre à étudier ou à mesurer. La plaque détectrice (16) présente, au moins à l'intérieur de ses zones de couplage (18, 22) avec l'échantillon pour essai et l'échantillon de référence, un matériau semi-conducteur thermoélectrique en céramique ou monocristallin ou polycristallin.
Designierte Staaten: CH, JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)