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1. (WO1999002979) VORRICHTUNG ZUR MESSUNG UND/ODER ABBILDUNG ELEKTRISCHER, MAGNETISCHER UND MITTELBAR DARAUS ABLEITBARER MATERIALEIGENSCHAFTEN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/1999/002979    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/DE1998/001930
Veröffentlichungsdatum: 21.01.1999 Internationales Anmeldedatum: 10.07.1998
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    08.02.1999    
IPC:
G01N 22/00 (2006.01), G01N 22/02 (2006.01)
Anmelder: GÖLLER, Arndt [DE/DE]; (DE) (AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BY, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CU, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GA, GB, GE, GH, GM, GN, GR, GW, HR, HU, IE, IL, IS, IT, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, NE, NL, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, SN, SZ, TD, TG, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, UZ, VN, ZW only).
LANDGRAF, Jürgen [DE/DE]; (DE) (For US Only).
GÖLLER, Arndt [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: LANDGRAF, Jürgen; (DE).
GÖLLER, Arndt; (DE)
Vertreter: LIPPERT, STACHOW, SCHMIDT & PARTNER; Postfach 19 24 38, D-01282 Dresden (DE)
Prioritätsdaten:
197 29 730.7 11.07.1997 DE
Titel (DE) VORRICHTUNG ZUR MESSUNG UND/ODER ABBILDUNG ELEKTRISCHER, MAGNETISCHER UND MITTELBAR DARAUS ABLEITBARER MATERIALEIGENSCHAFTEN
(EN) DEVICE FOR MEASURING AND/OR REPRESENTING ELECTRICAL AND MAGNETIC MATERIAL PROPERTIES AND PROPERTIES DIRECTLY DERIVABLE THEREFROM
(FR) DISPOSITIF PERMETTANT DE MESURER ET/OU DE REPRESENTER DES PROPRIETES DE MATERIAUX, D'ORDRE ELECTRIQUE, MAGNETIQUE OU POUVANT EN ETRE INDIRECTEMENT DERIVEES
Zusammenfassung: front page image
(DE)Der Erfindung, die eine Vorrichtung zur Messung und/oder Abbildung elektrischer, magnetischer und mittelbar daraus ableitbarer Materialeigenschaften betrifft, liegt die Aufgabe zugrunde, eine verbesserte Tiefenwirksamkeit des Messens zu erreichen und in weiten Grenzen eine Anpassung der Oberflächengeometrie und der Meßempfindlichkeit an die zu untersuchenden Proben zu gestatten. Dies wird dadurch gelöst, daß den Applikator bildende Resonatoren aus elektrisch gekoppelten Zwei- oder Mehrleiterstrukturen bestehen, die zumindest im Bereich einiger der sich bei Resonanz ausbildenden Spannungsmaxima oder Ladungsschwerpunkten in Richtung des Meßobjektes offen sind, und die Leitungsstrukturen so angeordnet sind, daß ein resultierendes Überlagerungsfeld ihrer zum Meßobjekt offenen Ladungsschwerpunkte an der Grenzfläche zum Meßobjekt an eine zu erzielende Feldgeometrie annäherbar ist.
(EN)The invention relates to a device for measuring and/or representing electrical and magnetic material properties or material properties directly derivable therefrom. The aim of the invention is to obtain better deep action measurement and to make it possible to adjust the surface geometry and sensitivity of the measurement to the samples to be examined. To this end, the resonators forming the applicator consist of electrically connected structures having two or more conductors which at least in the area of some of the voltage peaks or load centres of gravity which form during resonance are open towards the object to be measured. In addition, the conductor structures are arranged in such a way that a resulting superposition field of the load centres of gravity open towards the object to be measured can be approximated to a target field geometry at the interface to the object to be measured.
(FR)L'invention concerne un dispositif permettant de mesurer et/ou de représenter des propriétés de matériaux, d'ordre électrique, magnétique ou pouvant en être indirectement dérivées. L'invention vise à parvenir à une meilleure efficacité en profondeur de la mesure et à permettre d'adapter la géométrie superficielle et la sensibilité des mesures aux échantillons à examiner, ce, dans des plages étendues. A cet effet, les résonateurs qui forment l'applicateur se composent de structures à deux ou à plusieurs conducteurs couplés électriquement, qui sont ouvertes en direction de l'objet mesuré, du moins dans la plage de quelques maxima de tension ou de centres de gravité de charge intervenant lors de la résonance. Les structures conductrices sont disposées de manière qu'un champ de superposition de leur centres de gravité de charge ouverts en direction de l'objet à mesurer en résultant puisse, à l'interface de l'objet à mesurer, être amené à approcher une géométrie de champ ciblée.
Designierte Staaten: AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BY, CA, CH, CN, CU, CZ, DK, EE, ES, FI, GB, GE, HR, HU, IL, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MD, MG, MK, MN, MW, MX, NO, NZ, PL, PT, RO, RU, SD, SE, SG, SI, SK, TJ, TM, TR, TT, UA, UG, US, UZ, VN.
African Regional Intellectual Property Organization (GH, GM, KE, LS, MW, SD, SZ, UG, ZW)
Eurasian Patent Organization (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
European Patent Office (AT, BE, CH, CY, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE)
African Intellectual Property Organization (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)