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1. (WO1997000430) MESSVORRICHTUNG FÜR KURZE UND ULTRAKURZE LICHTIMPULSE
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/1997/000430    Internationale Anmeldenummer    PCT/DE1996/001127
Veröffentlichungsdatum: 03.01.1997 Internationales Anmeldedatum: 19.06.1996
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    10.01.1997    
IPC:
G01J 1/46 (2006.01), G01J 11/00 (2006.01), G04F 13/02 (2006.01)
Anmelder: OPTIKZENTRUM NRW GMBH (OZ) [DE/DE]; Universitätsstrasse 142, D-44799 Bochum (DE) (For All Designated States Except US).
SCHULZ, Harald [DE/DE]; (DE) (For US Only).
ZHOU, Ping [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: SCHULZ, Harald; (DE).
ZHOU, Ping; (DE)
Vertreter: BUTENSCHÖN, BERGMANN, NÖTH, REITZLE, GRAMBOW, KRAUS; Kurfürstendamm 170, D-10707 Berlin (DE)
Prioritätsdaten:
195 22 190.7 19.06.1995 DE
195 26 767.2 21.07.1995 DE
195 49 303.6 22.12.1995 DE
195 49 280.3 22.12.1995 DE
Titel (DE) MESSVORRICHTUNG FÜR KURZE UND ULTRAKURZE LICHTIMPULSE
(EN) MEASURING DEVICE FOR SHORT AND ULTRASHORT LIGHT PULSES
(FR) DISPOSITIF DE MESURE POUR DES IMPULSIONS LUMINEUSES COURTES ET ULTRACOURTES
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung stellt eine Meßvorrichtung für kurze und ultrakurze Lichtimpulse mit Impulsdauern im Femtosekunden- und Picosekundenbereich zur Verfügung, mit der eine vollständige Charakterisierung bezüglich der Impulsform, -phase, -dauer und -spektrum sowie des Chirps von kurzen und ultrakurzen Lichtimpulsen sowohl für Laser mit hoher Impulsfolgefrequenz als auch für Laser mit geringer Impulsfolgefrequenz und hoher oder geringer Intensität durchgeführt werden können. Der zu untersuchende Laserimpuls wird in zwei Teilimpulse aufgespalten und einer der beiden Teilstrahlen erfährt eine zusätzliche Dispersion bzw. es wird zu dem zu untersuchenden Laserimpuls ein zweiter gut charakterisierter Laserimpuls eingestrahlt. Beide Teilstrahlen werden anschließend in einem in zweiter Ordnung nichtlinear optischen Element, beispielsweise in einem Kristall oder an einer Oberfläche, einander überlagert. Die entstehende Summenfrequenzstrahlung wird als Korrelationssignal zeitlich, räumlich und/oder spektral analysiert.
(EN)The invention concerns a measuring device for short and ultrashort light pulses with durations in the femto- and picosecond range. This measuring device enables complete characterization with respect to the shape, phase, duration, spectrum and chirp of short and ultrashort light pulses to be carried out, both for lasers with high pulse train frequencies and lasers with low pulse train frequencies and high or low intensity. The laser pulse to be investigated is split into two partial pulses and one of the two partial beams is subjected to additional dispersion, or a second, well-characterized laser pulse is radiated in addition to the laser pulse to be investigated. The two partial beams are then superimposed on one another in a non-linear optical element of the second order, for example a crystal or on a surface. The resultant total frequency radiation is analyzed chronologically, spatially and/or spectrally as a correlation signal.
(FR)L'invention a pour objet un dispositif de mesure pour des impulsions lumineuses courtes et ultracourtes, à durée de l'ordre de la femtoseconde et de la picoseconde, au moyen duquel on peut effectuer une caractérisation complète eu égard à la forme, à la phase, à la durée et au spectre des impulsions, ainsi qu'aux fluctuations de fréquence des impulsions lumineuses courtes et ultracourtes, à la fois pour des lasers à fréquence élevée de récurrence des impulsions et pour des lasers à fréquence faible élevée de récurrence des impulsions, et pour une intensité élevée ou faible. L'impulsion laser à déterminer est scindée en deux impulsions partielles, et l'un des deux faisceaux partiels est soumis à une dispersion supplémentaire, ou bien une deuxième impulsion laser bien caractérisée est irradiée en plus de l'impulsion laser à déterminer. Les deux faisceaux partiels sont ensuite superposés l'un à l'autre dans un élément optique non linéaire du second ordre, par exemple, dans un cristal ou sur une surface. Le rayonnement de fréquence somme résultant est analysé chronologiquement, dans l'espace et/ou spectralement sous la forme d'un signal de corrélation.
Designierte Staaten: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FI, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)