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1. (WO1994000772) VERFAHREN ZUM ERMITTELN VON ANOMALIEN EINER ZU UNTERSUCHENDEN LEITUNG
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/1994/000772    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/DE1993/000444
Veröffentlichungsdatum: 06.01.1994 Internationales Anmeldedatum: 17.05.1993
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    18.01.1994    
IPC:
G01R 31/11 (2006.01)
Anmelder: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT [DE/DE]; Wittelsbacherplatz 2, D-80333 München (DE) (For All Designated States Except US).
MEYER, Stephan [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: MEYER, Stephan; (DE)
Prioritätsdaten:
P 42 20 409.7 19.06.1992 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUM ERMITTELN VON ANOMALIEN EINER ZU UNTERSUCHENDEN LEITUNG
(EN) PROCESS FOR DETECTING ABNORMALITIES IN A LINE TO BE EXAMINED
(FR) PROCEDE POUR LA DETERMINATION D'ANOMALIES DANS UNE LIGNE A EXAMINER
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Ermitteln von Anomalien einer zu untersuchenden Leitung, bei dem auf eine impulsförmige Signal-Beaufschlagung der Leitung hin ein in der Leitung reflektiertes Signal erfaßt wird. Um dieses Verfahren besonders schnell und mit hoher Genauigkeit durchführen zu können, wird eine Gewichtungsfunktion mit einem zeitlichen Verlauf gebildet, der charakteristisch für das Verhalten einer zur jeweils zu untersuchenden Leitung (1) typengleichen Leitung bei impulsförmiger Beaufschlagung ist. Die jeweils zu untersuchende Leitung (1) wird mit einem einzigen Impuls als impulsförmiger Beaufschlagung beaufschlagt, und das erfaßte reflektierte Signal (S) wird im Rahmen einer Faltungsoperation mit der Gewichtsfunktion gewichtet.
(EN)The invention relates to a process for detecting abnormalities in a line to be examined, in which a signal reflected in the line is detected when a pulsed signal is fed into the line. In order to be able to implement this process particularly quickly and with high precision, a weighting function with a time variation is formed which is characteristic for the behaviour of a line of the same type as the line (1) to be examined when a pulse is applied to it. A single pulse is applied to the line (1) to be examined and the detected reflected signal is weighed with the weighting factor as part of a convolution operation.
(FR)La présente invention concerne un procédé pour la détermination d'anomalies dans une ligne à examiner, procédé selon lequel, après avoir injecté dans la ligne un signal pulsé, on détecte un signal réfléchi dans la ligne. Pour appliquer ce procédé de façon particulièrement rapide et avec une haute précision, on établit une fonction de pondération à variation temporelle caractéristique du comportement d'une ligne du même type que la ligne à examiner (1) lors de l'injection d'un signal pulsé. Le signal injecté dans la ligne à examiner (1) est produit par une seule impulsion, et le signal réfléchi détecté (S) est pondéré par la fonction de pondération dans la cadre d'une opération de convolution.
Designierte Staaten: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)