WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Suche
 
Durchsuchen
 
Übersetzen
 
Optionen
 
Aktuelles
 
Einloggen
 
Hilfe
 
Maschinelle Übersetzungsfunktion
1. (WO1993017346) VERFAHREN UND SENSOR ZUM MESSEN VON ELEKTRISCHEN SPANNUNGEN UND/ODER ELEKTRISCHEN FELDSTÄRKEN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/1993/017346    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/DE1993/000162
Veröffentlichungsdatum: 02.09.1993 Internationales Anmeldedatum: 20.02.1993
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    14.09.1993    
IPC:
G01R 15/24 (2006.01)
Anmelder: MWB HIGH VOLTAGE SYSTEMS GMBH [DE/DE]; Nürnberger Straße 199, D-8600 Bamberg (DE) (For All Designated States Except US).
PEIER, Dirk [DE/DE]; (DE) (For US Only).
HIRSCH, Holger [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: PEIER, Dirk; (DE).
HIRSCH, Holger; (DE)
Vertreter: HUFNAGEL, Walter; 19, Bad Brückenauer Straße, D-90427 Nürnberg (DE)
Prioritätsdaten:
P 42 05 509.1 24.02.1992 DE
Titel (DE) VERFAHREN UND SENSOR ZUM MESSEN VON ELEKTRISCHEN SPANNUNGEN UND/ODER ELEKTRISCHEN FELDSTÄRKEN
(EN) PROCESS AND SENSOR FOR MEASURING ELECTRIC VOLTAGES AND/OR ELECTRIC FIELD INTENSITIES
(FR) PROCEDE ET DETECTEUR POUR LA MESURE DE TENSIONS ELECTRIQUES ET/OU D'INTENSITES DE CHAMPS ELECTRIQUES
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen von elektrischen Spannungen und/oder elektrischen Feldern unter Anwendung eines einen elektrooptischen Effekt (Pockels-Effekt) aufweisenden Kristalls (1). Hierzu wird ein quer zur Ausbreitungsrichtung (y-Richtung) einer in z-Richtung polarisierten Lichtwelle (17') ein Gradient der elektrischen Feldstärke im Kristall (1) in x-Richtung erzeugt, aus dem ein entsprechender Gradient der Brechungszahl n des Kristalls (1) resultiert. Hierdurch erfolgt eine feldstärkeabhängige Auslenkung der Lichtwelle (17') im Kristall (1), die beim Austreten als Maß für die Spannung oder Feldstärke benutzt wird. Ein hierfür geeigneter Sensor wird ebenfalls beschrieben.
(EN)The invention relates to a process for measuring electric voltages and/or electric fields by the use of a crystal (1) with an electro-optical (Pockels) effect. To this end, in a direction transverse to the direction of propagation (y direction) of a light wave (17') polarised in the z direction, an electric field intensity gradient is generated in the crystal (1) in the direction from which results a corresponding gradient in the refractive index n of the crystal (1). This produces a deflection of the light wave (17') in the crystal which depends upon the field intensity and, on emergence, it is used as a measure for the voltage of field intensity. A suitable sensor for this purpose is also described.
(FR)L'invention concerne un procédé pour la mesure de tensions électriques et/ou de champs électriques avec utilisation d'un cristal (1) présentant un effet électro-optique (effet de Pockels). A cet effet, on produit, perpendiculairement par rapport à la direction de propagation (direction y) d'une onde lumineuse (17') polarisée dans la direction z, un gradient de l'intensité du champ électrique dans le cristal (1) dans la direction x, gradient dont il résulte un gradient correspondant de l'indice de réfraction n du cristal (1). Il en résulte une déviation, en fonction de l'intensité du champ, de l'onde lumineuse (17') dans le cristal (1), déviation qui est utilisée à la sortie comme mesure de la tension ou de l'intensité du champ. On décrit également un détecteur convenant pour ce procédé.
Designierte Staaten: AM, BY, CA, HU, JP, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM, UA, US, UZ.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IE, IT, LU, MC, NL, PT, SE).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)