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1. (WO1992019942) VERFAHREN ZUR ERMITTLUNG DER GRÖSSE VON PARAMETERN
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/1992/019942    Internationale Anmeldenummer    PCT/DE1992/000364
Veröffentlichungsdatum: 12.11.1992 Internationales Anmeldedatum: 02.05.1992
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    28.11.1992    
IPC:
G01H 13/00 (2006.01)
Anmelder: KERNFORSCHUNGSZENTRUM KARLSRUHE GMBH [DE/DE]; Weberstraße 5, D-7500 Karlsruhe 1 (DE) (For All Designated States Except US).
SCHOMBURG, Werner [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: SCHOMBURG, Werner; (DE)
Vertreter: GOTTLOB, Peter; Kernforschungszentrum Karlsruhe GmbH, Weberstr. 5, D-7500 Karlsruhe (DE)
Prioritätsdaten:
P 41 14 268.3 02.05.1991 DE
Titel (DE) VERFAHREN ZUR ERMITTLUNG DER GRÖSSE VON PARAMETERN
(EN) PROCESS FOR FINDING THE VALUE OF PARAMETERS
(FR) PROCEDE PERMETTANT DE DETERMINER LA GRANDEUR DE PARAMETRES
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Ermittlung der Größe von Parametern, welche die Frequenz von Eigenschwingungen von Mikrostrukturen ändern, wobei die Mikrostrukturen mindestens eine an ihrem Rand fixierte Membran aufweisen. Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zur Verfügung zu stellen, das die Messung von Temperaturen, Dehnungen, Drücken, Dichten, Strömungsgeschwindigkeiten, Beschichtungsraten, inneren mechanischen Spannungen und Elastizitätsmodulen an während der Messung nicht direkt zugängigen Meßobjekten ermöglicht, ohne daß während der Messung Anschlüsse oder Zuleitungen bis dicht an das Meßobjekt herangeführt zu werden brauchen. Gelöst wird diese Aufgabe durch Erfassen der Frequenz der charakteristischen Eigenschwingung der Mikrostrukturen, und Ermitteln der Größe der Parameter mit Hilfe einer Eichkurve.
(EN)The invention relates to a process for finding the value of parameters which change the natural oscillation frequency of microstructures, whereby the microstructures have at least one diaphragm secured to their edge. It is the purpose of the invention to provide a process facilitating the measurement of temperatures, expansion, pressures, densities, flow rates, coating rates, internal mechanical stresses and moduli of elasticity on objects to be measured which are not directly accessible during measurement without having to take connections or leads close to the object during measurement. This aim is achieved by finding the characteristic natural oscillation frequency of the microstructures and detecting the value of the parameter with the aid of a calibration curve.
(FR)La présente invention se rapporte à un procédé permettant de déterminer la grandeur de paramètres modifiant la fréquence des oscillations propres de microstructures, ces microstructures présentant au moins une membrane fixée à l'un de leurs bords. Le but de l'invention est de mettre à disposition un procédé permettant la mesure des températures, allongements, pressions, densités, vitesses d'écoulement, taux de revêtement, tensions mécaniques internes et modules d'élasticité, sur des objets à mesurer qui ne sont pas accessibles directement, sans qu'il soit nécessaire, pendant la mesure, d'approcher des raccordements ou des cordons d'alimentation jusqu'à proximité immédiate de l'objet à mesurer. On atteint ce but en déterminant la fréquence de l'oscillation propre et caractéristique des microstructures et en déterminant la grandeur des paramètres à l'aide d'une courbe-étalon.
Designierte Staaten: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, MC, NL, SE).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)