WIPO logo
Mobil | Englisch | Español | Français | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Suche in nationalen und internationalen Patentsammlungen
World Intellectual Property Organization
Suche
 
Durchsuchen
 
Übersetzen
 
Optionen
 
Aktuelles
 
Einloggen
 
Hilfe
 
Maschinelle Übersetzungsfunktion
1. (WO1992008102) ANORDNUNG ZUM MESSEN LINEARER ABMESSUNGEN AUF EINER STRUKTURIERTEN OBERFLÄCHE EINES MESSOBJEKTES
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/1992/008102    Internationale Veröffentlichungsnummer:    PCT/EP1991/002089
Veröffentlichungsdatum: 14.05.1992 Internationales Anmeldedatum: 05.11.1991
IPC:
G01B 7/28 (2006.01), G01B 7/34 (2006.01)
Anmelder: JENOPTIK CARL ZEISS JENA GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Str. 1, D-6900 Jena (DE) (For All Designated States Except US).
BARTZKE, Karlheinz [DE/DE]; (DE) (For US Only).
THIEMER, Rolf [DE/DE]; (DE) (For US Only).
MENDE, Erhard [DE/DE]; (DE) (For US Only).
RETSCHKE, Bernhard [DE/DE]; (DE) (For US Only).
KRAUSSE, Wolfgang [DE/DE]; (DE) (For US Only).
WEIHNACHT, Manfred [DE/DE]; (DE) (For US Only).
HELKE, Günter [DE/DE]; (DE) (For US Only).
HEIM, Joachim [DE/DE]; (DE) (For US Only).
WEHRSDORFER, Eike [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: BARTZKE, Karlheinz; (DE).
THIEMER, Rolf; (DE).
MENDE, Erhard; (DE).
RETSCHKE, Bernhard; (DE).
KRAUSSE, Wolfgang; (DE).
WEIHNACHT, Manfred; (DE).
HELKE, Günter; (DE).
HEIM, Joachim; (DE).
WEHRSDORFER, Eike; (DE)
Vertreter: GEYER & FEHNERS; Perhamerstr. 31, D-8000 München 21 (DE)
Prioritätsdaten:
P 40 35 084.3 05.11.1990 DE
Titel (DE) ANORDNUNG ZUM MESSEN LINEARER ABMESSUNGEN AUF EINER STRUKTURIERTEN OBERFLÄCHE EINES MESSOBJEKTES
(EN) DEVICE FOR MEASURING LINEAR DIMENSIONS ON A PATTERNED SURFACE
(FR) DISPOSITIF POUR LA MESURE DE DIMENSIONS LINEAIRES SUR UNE SURFACE STRUCTUREE D'UN OBJET A MESURER
Zusammenfassung: front page image
(DE)Bei einer Anordnung zum Messen linearer Abmessungen auf einer strukturierten Oberfläche (8) eines Meßobjektes (9) ist eine Tastspitze (7) mit einem Resonator (5) gekoppelt, der mit einer Oszillatorschaltung (10) verbunden ist. Ferner ist eine Regelschaltung (12) vorgesehen, die mit senkrecht zur Oberfläche (8) wirkenden Stellelementen (1, 2) für den Resonator (5) verbunden ist, wobei zwischen Tastspitze (7) und Resonator (5) ein Stoßaufnehmer (6) angeordnet ist, der mit einer Regelschaltung (12) in Verbindung steht.
(EN)The device proposed, which is designed to measure linear dimensions on the patterned surface (8) of a body (9), has a pointed sensor tip (7) coupled to a resonator (5) which is connected in turn to an oscillator circuit (10). The device also includes a control circuit (12) which is connected to resonator-position control elements (1, 2) acting at right angles to the surface (8), a shock isolator (6) connected to the control circuit (12) being located between the sensor tip (7) and the resonator (5).
(FR)Dans un dispositif pour la mesure de dimensions linéaires sur une surface structurée (8) d'un objet à mesurer (9), une pointe de contact (7) est couplée à un résonateur (5) relié à un circuit oscillateur (10). En outre est prévu un circuit de réglage (12) relié à des éléments de réglage (1, 2) pour le résonateur (5), lesquels agissent perpendiculairement à la surface (8), un isolateur de chocs (6) étant disposé entre la pointe de contact (7) et le résonateur (5), lequel est en communication avec un circuit de réglage (12).
Designierte Staaten: JP, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, NL, SE).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)