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1. (WO1991010210) VERFAHREN UND EINRICHTUNG ZUR KORREKTUR VON POSITIONSFEHLERN EINES ABGELENKTEN LICHTSTRAHLS
Aktuellste beim Internationalen Büro vorliegende bibliographische Daten   

TranslationÜbersetzung: Original-->Deutsch
Veröff.-Nr.:    WO/1991/010210    Internationale Anmeldenummer    PCT/DE1990/000966
Veröffentlichungsdatum: 11.07.1991 Internationales Anmeldedatum: 16.12.1990
Antrag nach Kapitel 2 eingegangen:    28.06.1991    
IPC:
G06K 15/12 (2006.01)
Anmelder: DR.-ING. RUDOLF HELL GMBH [DE/DE]; Siemenswall, Postfach 24 60, D-2300 Kiel 1 (DE) (For All Designated States Except US).
ZELENKA, Thomas [DE/DE]; (DE) (For US Only)
Erfinder: ZELENKA, Thomas; (DE)
Vertreter: LEUFER, Hans, Günter; Linotype-Hell AG, Siemenswall, Postfach 24 60, D-2300 Kiel 1 (DE)
Prioritätsdaten:
P 40 00 166.0 05.01.1990 DE
Titel (DE) VERFAHREN UND EINRICHTUNG ZUR KORREKTUR VON POSITIONSFEHLERN EINES ABGELENKTEN LICHTSTRAHLS
(EN) PROCESS AND DEVICE FOR CORRECTING POSITIONAL ERRORS IN A DEFLECTED LIGHT BEAM
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LA CORRECTION D'ERREURS DE POSITION D'UN RAYON LUMINEUX DIFFRACTE
Zusammenfassung: front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Einrichtung zur Korrektur der Positionsfehler eines durch ein Ablenksystem (17) mit mindestens einer Spiegelfläche (18) über eine Fläche (23) abgelenkten Lichtstrahls (2), der sich quer zur Zeilenrichtung relativ zum Ablenksystem (17) bewegt. Der Lichtstrahl (2) wird mittels einer Laserdiode (1) erzeugt, die quer zur Richtung des austretenden Lichtstrahls (2) in Abhängigkeit von Korrekturwerten verschiebbar ist. Vor dem eigentlichen Betrieb werden für jede Spiegelfläche (18) des Ablenksystems (17) eine Anzahl von Positionsfehlern des Lichtstrahls (2) in Zeilenrichtung (X-Positionsfehler) und senkrecht dazu (Y-Positionsfehler) an in Zeilenrichtung orientierten Meßpunkten (32a; 32b; 32c) in der Fläche (23) gemessen. Für jede Spiegelfläche (18) wird mindestens ein X-Korrekturwert und ein Y-Korrekturwert erzeugt. Die Laserdiode (1) wird in Abhängigkeit von den X-Korrekturwerten und den Y-Korrekturwerten derart verschoben, daß der auf die Fläche (23) auftreffende Lichtstrahl (2) zur Beseitigung der X-Positionsfehler und der Y-Positionsfehler Korrekturverschiebungen in und senkrecht zur Zeilenrichtung erfährt. Die Korrekturwerte werden bei gleichzeitiger Überprüfung der Positionsfehler so lange geändert, bis die Positionsfehler kompensiert sind. Die auf diese Weise ermittelten Korrekturwerte werden gespeichert und während des eigentlichen Betriebes zur laufenden Fehlerkompensation in Synchronismus mit der Bewegung des Ablenksystems (17) ausgegeben.
(EN)The invention relates to a process and device for correcting posiitional errors in a light beam (2) deflected by a deflection system (17) with at least one reflective surface (18) via a plane (23), which moves transversely to the line direction in relation to the deflection system (17). The light beam is generated by a laser diode (1) movable transversely to the direction of the emerging light beam (2) dependently upon correcting values. Before actual operation, a number of position errors of the light beam (2) in the line direction (X position errors) and perpendicularly thereto (Y position errors) at measuring points (32a; 32b; 32c) in the plane (23) is measured. At least one X and one Y correction is generated for each reflective surface (18). The laser diode (1) is shifted depending on the X and Y correction values in such a way that the light beam (2) impinging on the plane (23) undergoes correcting shifts in and perpendicularly to the line direction to eliminate the X and Y position errors. The corrective values are altered while the position errors are checked until the position errors are compensated. The corrections found in this manner are stored and issued during actual operation for the continuous compensation of errors in synchronism with the movement of the deflection system (17).
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif pour la correction d'erreurs de position d'un rayon lumineux (2) diffracté par un dispositif de diffraction (17) présentant au moins une surface formant un miroir (18) au-dessus d'une surface (23), rayon qui se déplace perpendiculairement à la direction de lignes par rapport au dispositif de diffraction (17). Le rayon lumineux (2) est produit par une diode-laser (1) qui est déplaçable perpendiculairement à la direction du rayon lumineux sortant (2), en fonction des valeurs de correction. Avant la mise en service proprement dite, on mesure, pour chaque surface à miroir (18) du dispositif de diffraction (17), un certain nombre d'erreurs de position du rayon lumineux (2) en direction des lignes (erreur de position X) et perpendiculairement à celle-ci (erreur de position Y), sur des points de mesure (32a; 32b; 32c) sur la surface (23), orientés en direction des lignes. Au moins une valeur de correction X et une valeur de correction Y sont fournies pour chaque surface à miroir (18). La diode-laser (1) est déplacée en fonction des valeurs de correction X et des valeurs de correction Y, de telle façon que le rayon lumineux (2) frappant la surface (23) subisse des déplacements de correction dans la direction des lignes et perpendiculairement à celle-ci, en vue d'éliminer l'erreur de position X et l'erreur de position Y. Les valeurs de correction sont modifiées par vérification simultanée des erreurs de position, jusqu'à ce que lesdites erreurs de position soient compensées. Les valeurs de correction déterminées de cette façon sont mémorisées et distribuées pendant l'exploitation proprement dite, en vue d'assurer la compensation en continu des erreurs, en synchronisation avec le déplacement du dispositif de diffraction (17).
Designierte Staaten: AU, CA, JP, SU, US.
European Patent Office (AT, BE, CH, DE, DK, ES, FR, GB, GR, IT, LU, NL, SE).
Veröffentlichungssprache: German (DE)
Anmeldesprache: German (DE)