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1. DE202016008496 - Spektroskopisches Messgerät

Amt
Deutschland
Aktenzeichen/Anmeldenummer 202016008496
Anmeldedatum 08.07.2016
Veröffentlichungsnummer 202016008496
Veröffentlichungsdatum 19.04.2018
Veröffentlichungsart U1
IPC
G01N 21/27
GSektion G Physik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung von Submillimeter-Wellen, infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht
17Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
25Farbe; Spektraleigenschaften, d.h. Vergleich der Materialeffekte bei Licht von zwei oder mehr Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen
27mit fotoelektrischer Erfassung
G01N 21/31
GSektion G Physik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung von Submillimeter-Wellen, infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht
17Systeme, in denen einfallendes Licht durch die Eigenschaften des untersuchten Materials beeinflusst wird
25Farbe; Spektraleigenschaften, d.h. Vergleich der Materialeffekte bei Licht von zwei oder mehr Wellenlängen oder Wellenlängenbereichen
31Untersuchen relativer Materialeffekte bei Wellenlängen, die für spezifische Elemente oder Moleküle charakteristisch sind, z.B. Atomabsorptionsspektrometrie
G01N 21/03
GSektion G Physik
01Messen; Prüfen
NUntersuchen oder Analysieren von Stoffen durch Bestimmen ihrer chemischen oder physikalischen Eigenschaften
21Optisches Untersuchen oder Analysieren von Stoffen, d.h. durch die Anwendung von Submillimeter-Wellen, infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht
01Anordnungen oder Geräte zum Erleichtern optischer Untersuchungen
03Küvetten
G01J 3/02
GSektion G Physik
01Messen; Prüfen
JMessen der Intensität, der Geschwindigkeit, der spektralen Zusammensetzung, der Polarisation, der Phase oder der Pulscharakteristik von infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht; Farbmessung; Strahlungspyrometrie
3Spektrometrie; Spektrofotometrie; Monochromatoren; Farbmessung
02Einzelheiten
CPC
G01N 21/274
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
27using photo-electric detection
274Calibration, base line adjustment, drift correction
G01J 3/28
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28Investigating the spectrum
G01J 3/42
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
28Investigating the spectrum
42Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
G01J 2003/1226
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
3Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
12Generating the spectrum; Monochromators
1226Interference filters
G01N 21/031
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
03Cuvette constructions
031Multipass arrangements
G01N 21/31
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
Anmelder Airyx GmbH
Vertreter LIPPERT STACHOW Patentanwälte Rechtsanwälte Partnerschaft mbB
Titel
(DE) Spektroskopisches Messgerät
Zusammenfassung
(DE)

Spektroskopisches Messgerät (1) umfassend eine spektral breitbandige Lichtquelle (2), eine Messzelle (3) mit einem Resonator, einen Detektor (4) und eine Recheneinheit (5), wobei die Lichtquelle (2) zum Aussenden eines Lichtstrahls ausgebildet ist, der entlang eines Lichtwegs durch einen Eingang in eine Messzelle (3) eintritt und durch einen Ausgang aus der Messzelle (3) austritt, wobei der Detektor (4) außerhalb der Messzelle (3) an dem Ausgang angeordnet ist und zum Ausgeben eines wellenlängenaufgelösten Messwerts für eine Lichtintensität von auf ihn auftreffendem Licht ausgebildet ist, wobei die Recheneinheit (5) eine Speichereinheit aufweist, in der eine zu einem Kalibrationszustand gemessene wellenlängenabhängige Kalibrationskurve speicherbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass das Messgerät (1) einen Auswertedetektor (7) und eine Filtereinheit (6) umfasst, die in dem Messgerät (1) dergestalt angeordnet ist, dass sie eine Filterung des Lichtanteils des Lichtstrahls mit einer vorgegebenen Wellenlängenabhängigkeit gewährleistet, der auf den Auswertedetektor (7) auftrifft, wobei die Recheneinheit (5) dazu ausgebildet ist, aus dem Auswertedetektor (7) Messwerte auszulesen und aus den Messwerten einen Wert für einen Kalibrationsparameter zu ermitteln, einen zum Kalibrationszustand ermittelten Ausgangswert des Kalibrationsparameters abzuspeichern, zu einem Nachfolgezustand einen Nachfolgewert des Kalibrationsparameters zu ermitteln und auf Basis des Unterschieds zwischen dem Ausgangswert und dem Nachfolgewert eine Anpassung der Kalibrationskurve zu berechnen. embedded image

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