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1. DE102007003059 - Verfahren zur objektivierten Fokussierung für die optische Längenmesstechnik

Amt
Deutschland
Aktenzeichen/Anmeldenummer 102007003059
Anmeldedatum 15.01.2007
Veröffentlichungsnummer 102007003059
Veröffentlichungsdatum 24.07.2008
Veröffentlichungsart A1
IPC
G02B 7/36
GSektion G Physik
02Optik
BOptische Elemente, Systeme oder Geräte
7Halterungen, Fassungen, Justiereinrichtungen oder lichtdichte Verbindungen für optische Elemente
28Systeme zum automatischen Erzeugen von Scharfeinstellsignalen
36unter Verwendung von Methoden zur Messung der Bildschärfe
G01B 11/24
GSektion G Physik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
24zum Messen von Umrisslinien oder Krümmungen
G01B 11/14
GSektion G Physik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
14zum Messen des Abstandes oder der Weite zwischen Gegenständen oder von Öffnungen
CPC
G02B 7/36
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
7Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
28Systems for automatic generation of focusing signals
36using image sharpness techniques ; , e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
G01B 11/03
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
02for measuring length, width or thickness
03by measuring coordinates of points
G01B 11/14
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
14for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
Anmelder UNIV ILMENAU TECH
Erfinder TOEPFER SUSANNE
ROSENBERGER MAIK
LINS GERHARD
Titel
(DE) Verfahren zur objektivierten Fokussierung für die optische Längenmesstechnik
Zusammenfassung
(DE)

Mit der vorliegenden Erfindung soll ein Verfahren zur Ermittlung eines optimierten Fokuskriteriums bereitgestellt werden, mit dem Ziel, die passive Fokussierung in der optischen Längenmesstechnik bedienerunabhängig zu realisieren. Erfindungsgemäß wird anstelle nur eines oder zweier oder dreier Fokuskriterien ein aus einer Vielzahl (>= 5) von einzelnen Fokuskriterien kombiniertes Fokuskriterium verwendet, wobei die einzelnen Fokuskriterien sich nur in ihrem Funktionsprinzip unterscheiden. Anwendung findet dieses neuartige Verfahren z. B. in der optischen Koordinatenmesstechnik, bei der 3-D-Bildverarbeitung und speziell in der optischen Präzisionsmesstechnik.

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