In Bearbeitung

Bitte warten ...

Einstellungen

Einstellungen

Gehe zu Anmeldung

1. DE102006007170 - Verfahren und Anordnung zur schnellen und robusten chromatisch konfokalen 3D-Messtechnik

Amt Deutschland
Aktenzeichen/Anmeldenummer 102006007170
Anmeldedatum 08.02.2006
Veröffentlichungsnummer 102006007170
Veröffentlichungsdatum 16.08.2007
Veröffentlichungsart B4
IPC
G01B 11/24
GPhysik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
24zum Messen von Umrisslinien oder Krümmungen
G01B 11/25
GPhysik
01Messen; Prüfen
BMessen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen; Messen von Winkeln; Messen von Flächen; Messen von Unregelmäßigkeiten an Oberflächen oder Umrissen
11Messanordnungen gekennzeichnet durch die Verwendung optischer Messmittel
24zum Messen von Umrisslinien oder Krümmungen
25durch Projizieren eines Musters, z.B. Moiré-Streifen, auf den Gegenstand
G01J 3/06
GPhysik
01Messen; Prüfen
JMessen der Intensität, der Geschwindigkeit, der spektralen Zusammensetzung, der Polarisation, der Phase oder der Pulscharakteristik von infrarotem, sichtbarem oder ultraviolettem Licht; Farbmessung; Strahlungspyrometrie
3Spektrometrie; Spektrofotometrie; Monochromatoren; Farbmessung
02Einzelheiten
06Abtastanordnungen
CPC
G01B 11/25
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
11Measuring arrangements characterised by the use of optical means
24for measuring contours or curvatures
25by projecting a pattern, e.g. ; one or more lines,; moiré fringes on the object
G01B 2210/50
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
2210Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
50Using chromatic effects to achieve wavelength-dependent depth resolution
G06T 7/521
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
7Image analysis
50Depth or shape recovery
521from laser ranging, e.g. using interferometry; from the projection of structured light
Anmelder SIRONA DENTAL SYSTEMS GMBH
Erfinder KOERNER KLAUS
KOHLER CHRISTIAN
PAPASTATHOPOULOS EVANGELOS
OSTEN WOLFGANG
Titel
(DE) Verfahren und Anordnung zur schnellen und robusten chromatisch konfokalen 3D-Messtechnik
Zusammenfassung
(DE)

Verfahren und Anordnung zur chromatisch-konfokalen Technik zu schnellen, dreidimensionalen Messung, insbesondere der Objektform, insbesondere auch an einem Zahn im Kiefer eines Menschen, mit einem Array von polychromatischen Punktlichtquellen, einer flächigen Detektor-Matrix, der Mittel zur lateralen spektralen Aufspaltung vorgeordnet sind, und einem Objektiv zur Objektbeleuchtung und -aufnahme. Erfindungsgemäß werden zur chromatischen Kalibrierung spektral definierte Referenzlichtbündel unter Nutzung auch von Komponenten des Arrays von Punktlichtquellen erzeugt, wobei diese Referenzlichtbündel über einen Referenzstrahlengang in den Detektionsstrahlengang zur chromatischen, lateralen Aufspaltung eingekoppelt und anschließend auf die Detektor-Matrix als Referenzpunktbilder fokussiert werden. Es werden auf der Detektor-Matrix Positionen spektraler Referenzpunkte errechnet und mittels dieser Positionen werden Submatrizen zur spektralen Analyse von Objektlicht auf der Detektor-Matrix pixelgenau numerisch abgesteckt, welche dann zur Messpunktgewinnung dienen, so dass die Detektor-Matrix vollständig mit länglichen Submatrizen ausfüllbar ist und dabei das flächige Array relativ verdreht um einen spitzen Winkel zur spektralen Achse auf der flächigen Detektor-Matrix angeordnet ist, wobei die Drehung um die optische Achse (OA) der Anordnung ausgeführt ist, so dass eine Verbindungslinie von Punktlichtquellen bei deren Projektion in die Ebene der Detektor-Matrix dort mit der ...