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1. (WO2019063539) METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY EXAMINING A PLURALITY OF MICROSCOPIC SAMPLES
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رقم النشر: WO/2019/063539 رقم الطلب الدولي: PCT/EP2018/075949
تاريخ النشر: 04.04.2019 تاريخ الإيداع الدولي: 25.09.2018
التصنيف الدولي للبراءات:
G02B 21/00 (2006.01) ,G02B 21/36 (2006.01) ,G01N 15/14 (2006.01)
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المودعون:
CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE/DE]; Carl-Zeiss-Promenade 10 07745 Jena, DE
المخترعون:
KALKBRENNER, Thomas; DE
SIEBENMORGEN, Joerg; DE
OHRT, Thomas; DE
الوكيل:
PATENTANWÄLTE GEYER, FEHNERS & PARTNER MBB; Sellierstrae 1 07745 Jena, DE
بيانات الأولوية:
10 2017 122 718.029.09.2017DE
العنوان (EN) METHOD AND DEVICE FOR OPTICALLY EXAMINING A PLURALITY OF MICROSCOPIC SAMPLES
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF POUR L’EXAMEN OPTIQUE D’UNE PLURALITÉ D’ÉCHANTILLONS MICROSCOPIQUES
(DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR OPTISCHEN UNTERSUCHUNG EINER VIELZAHL MIKROSKOPISCHER PROBEN
الملخص:
(EN) The invention relates to a method for optically examining a plurality of microscopic samples (1). The samples (1) of the plurality are channeled and guided one after the other by means of a flow into at least one flow channel (3) in which the samples are advanced along a flow direction (23). The samples (1) are illuminated, and the light emitted from the samples (1) is detected and analyzed. The invention also relates to a device for carrying out the method. According to the invention, the samples (1) are illuminated in that at least one light sheet (19) with a light sheet plane (22) is directed onto the at least one flow channel (3), wherein the light sheet (19) is oriented so as to intersect the at least one flow channel (3) in an intersection region (20), and the normal (21) of the light sheet plane (22) forms an angle differing from null together with the flow direction (23) in the intersection region (20). The light emitted from the sample (1) is registered by an imaging optical detection unit (10), and the focal plane of said optical detection unit (10) lies in the intersection region (20).
(FR) L’invention concerne un procédé pour l’examen optique d’une pluralité d’échantillons microscopiques (1), dans lequel les échantillons (1) sont canalisés à partir de la pluralité et guidés les uns après les autres au moyen d’un courant dans au moins un canal d’écoulement (3), dans lequel ils se déplacent le long d’une direction du courant (23). Les échantillons (1) sont illuminés, la lumière émise par les échantillons (1) est détectée et analysée. L'invention concerne en outre un dispositif pour la mise en œuvre du procédé. Selon l’invention, les échantillons (1) sont illuminés, en dirigeant une lame de lumière (19) comprenant un plan de lame de lumière (22) vers l’au moins un canal d’écoulement (3), la lame de lumière (19) étant dirigée de telle façon qu’elle coupe l’au moins un canal d’écoulement (3) dans une zone d’intersection (20) et que la normale (21) au plan de lame de lumière (22) forme un angle non nul avec la direction du courant (23) dans la zone d’intersection (20). La lumière émise par l’échantillon (1) est enregistrée par l’optique de détection (10) de formation d’images, le plan focal de cette optique de détection (10) se situe dans la zone d’intersection (20).
(DE) Die Erfindung betrifft Verfahren zur optischen Untersuchung einer Vielzahl mikroskopischer Proben (1), bei dem die Proben (1) aus der Vielzahl kanalisiert und nacheinander mittels einer Strömung in mindestens einen Durchflusskanal (3) geleitet werden, in dem sie sich entlang einer Strömungsrichtung (23) fortbewegen. Die Proben (1) werden beleuchtet, von den Proben (1) abgestrahltes Licht wird detektiert und analysiert. Die Erfindung betrifft auch eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens. Erfindungsgemäß werden die Proben (1) beleuchtet, indem mindestens ein Lichtblatt (19) mit einer Lichtblattebene (22) auf den mindestens einen Durchflusskanal (3) gerichtet wird, wobei das Lichtblatt (19) so ausgerichtet wird, dass es den mindestens einen Durchflusskanal (3) in einem Schnittbereich (20) schneidet und die Normale (21) der Lichtblattebene (22) mit der Strömungsrichtung (23) im Schnittbereich (20) einen von Null verschiedenen Winkel einschließt. Das von der Probe (1) abgestrahlte Licht wird von einer abbildenden Detektionsoptik (10) registriert, die Fokusebene dieser Detektionsoptik (10) liegt im Schnittbereich (20).
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