بعض محتويات هذا التطبيق غير متوفرة في الوقت الحالي.
إذا استمرت هذه الحالة ، يرجى الاتصال بنا علىتعليق وإتصال
1. (WO2019009091) SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME
أحدث البيانات الببلوغرافية المتوفرة لدى المكتب الدولي    تقديم ملاحظات

رقم النشر: WO/2019/009091 رقم الطلب الدولي: PCT/JP2018/023652
تاريخ النشر: 10.01.2019 تاريخ الإيداع الدولي: 21.06.2018
التصنيف الدولي للبراءات:
H01L 29/78 (2006.01) ,H01L 21/336 (2006.01) ,H01L 29/06 (2006.01) ,H01L 29/12 (2006.01)
Description not available in lang arDescription not available in lang arDescription not available in lang arDescription not available in lang ar
المودعون:
株式会社デンソー DENSO CORPORATION [JP/JP]; 愛知県刈谷市昭和町1丁目1番地 1-1, Showa-cho, Kariya-city, Aichi 4488661, JP
トヨタ自動車株式会社 TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA [JP/JP]; 愛知県豊田市トヨタ町1番地 1, Toyota-cho, Toyota-shi, Aichi 4718571, JP
المخترعون:
竹内 有一 TAKEUCHI Yuichi; JP
箕谷 周平 MITANI Shuhei; JP
海老原 康裕 EBIHARA Yasuhiro; JP
山下 侑佑 MAYASHITA Yusuke; JP
三角 忠司 MISUMI Tadashi; JP
الوكيل:
特許業務法人ゆうあい特許事務所 YOU-I PATENT FIRM; 愛知県名古屋市中区錦一丁目6番5号 名古屋錦シティビル4階 Nagoya Nishiki City Bldg. 4F 1-6-5, Nishiki, Naka-ku, Nagoya-shi, Aichi 4600003, JP
بيانات الأولوية:
2017-13391707.07.2017JP
2018-07481609.04.2018JP
العنوان (EN) SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME
(FR) DISPOSITIF À SEMI-CONDUCTEUR ET SON PROCÉDÉ DE FABRICATION
(JA) 半導体装置およびその製造方法
الملخص:
(EN) According to the present invention, the longitudinal direction of trench gate structures and the longitudinal direction of stripe-shaped portions and electric field-blocking layers in a JFET part (3) are configured to be in the same direction and intersect the longitudinal direction of connection layers (9) of a second conductive type. By adopting such a configuration, the intervals between the trench gate structures can be set independently of the connection layers (9), and can be set narrower than in the case of disposing the connection layers (9) between the trench gate structures.
(FR) Selon la présente invention, la direction longitudinale des structures de grille de tranchée et la direction longitudinale de parties en forme de bande et de couches de blocage de champ électrique dans une partie JFET (3) sont configurées pour être dans la même direction et croisent la direction longitudinale de couches de connexion (9) d'un second type de conductivité. En adoptant une telle configuration, les intervalles entre les structures de grille de tranchée peuvent être réglés indépendamment des couches de connexion (9), et peuvent être réglés plus étroits que dans le cas de la disposition des couches de connexion (9) entre les structures de grille de tranchée.
(JA) トレンチゲート構造の長手方向とJFET部(3)のうちのストライプ状とされている部分および電界ブロック層(4)の長手方向を同方向とし、これらに対して第2導電型の連結層(9)の長手方向が交差するようにする。このような構成とすることで、トレンチゲート構造の間隔を連結層(9)に無関係に設定することができ、連結層(9)を各トレンチゲート構造の間に配置する場合と比較して狭くすることが可能となる。
front page image
الدول المعيّنة: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
المنظمة الإقليمية الأفريقية للملكية الفكرية (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
مكتب البراءات الأوروبي الآسيوي (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
المكتب الأوروبي للبراءات (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
المنظمة الأفريقية للملكية الفكرية (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
لغة النشر: ياباني (JA)
لغة الإيداع: ياباني (JA)