بعض محتويات هذا التطبيق غير متوفرة في الوقت الحالي.
إذا استمرت هذه الحالة ، يرجى الاتصال بنا علىتعليق وإتصال
1. (WO2018039255) INFRARED CHARACTERIZATION OF A SAMPLE USING OSCILLATING MODE
أحدث البيانات الببلوغرافية المتوفرة لدى المكتب الدولي    تقديم ملاحظات

رقم النشر: WO/2018/039255 رقم الطلب الدولي: PCT/US2017/048049
تاريخ النشر: 01.03.2018 تاريخ الإيداع الدولي: 22.08.2017
التصنيف الدولي للبراءات:
G01N 21/35 (2006.01) ,G01N 21/33 (2006.01) ,G01Q 60/24 (2010.01) ,G01N 29/12 (2006.01)
Description not available in lang arDescription not available in lang arDescription not available in lang arDescription not available in lang ar
المودعون:
BRUKER NANO, INC. [US/US]; 112 Robin Hill Road Santa Barbara, CA 93117, US
LEHIGH UNIVERSITY [US/US]; 526 Brodhead Avenue Bethlehem, PA 18015, US
المخترعون:
SU, Chanmin; US
WAGNER, Martin; US
XU, Xiaoji; US
الوكيل:
DURST, Jay, G.; US
بيانات الأولوية:
62/378,10722.08.2016US
62/506,96216.05.2017US
العنوان (EN) INFRARED CHARACTERIZATION OF A SAMPLE USING OSCILLATING MODE
(FR) CARACTÉRISATION INFRAROUGE D'UN ÉCHANTILLON À L'AIDE D'UN MODE D'OSCILLATION
الملخص:
(EN) An apparatus and method of performing sample characterization with an AFM and a pulsed IR laser directed at the tip of a probe of the AFM. The laser pulses are synchronized with the oscillatory drive of the AFM and may only interact with the tip/sample on selected cycles of the oscillation. Peak force tapping mode is preferred for AFM operation. Nano-mechanical and nano-spectroscopic measurements can be made with sub-50 nm, and even sub-20 nm, resolution.
(FR) L'invention concerne un appareil et un procédé de réalisation d'une caractérisation d'échantillon avec un AFM et d'un laser IR pulsé dirigé au niveau de la pointe d'une sonde de l'AFM. Les impulsions laser sont synchronisées avec l'entraînement oscillatoire de l'AFM et peuvent uniquement entrer en interaction avec la pointe/l'échantillon sur des cycles sélectionnés de l'oscillation. Un mode de tapotement à force maximale est préféré pour le fonctionnement de l'AFM. Des mesures nano-mécaniques et nano-spectroscopiques peuvent être effectuées avec une résolution inférieure à 50 nm, et même inférieure à 20 nm.
front page image
الدول المعيّنة: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
المنظمة الإقليمية الأفريقية للملكية الفكرية (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
مكتب البراءات الأوروبي الآسيوي (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
المكتب الأوروبي للبراءات (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
المنظمة الأفريقية للملكية الفكرية (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
لغة النشر: الإنكليزية (EN)
لغة الإيداع: الإنكليزية (EN)