بعض محتويات هذا التطبيق غير متوفرة في الوقت الحالي.
إذا استمرت هذه الحالة ، يرجى الاتصال بنا علىتعليق وإتصال
1. (WO2017001650) EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION
أحدث البيانات الببلوغرافية المتوفرة لدى المكتب الدولي

رقم النشر: WO/2017/001650 رقم الطلب الدولي: PCT/EP2016/065479
تاريخ النشر: 05.01.2017 تاريخ الإيداع الدولي: 01.07.2016
التصنيف الدولي للبراءات:
H04L 9/32 (2006.01) ,H04L 9/08 (2006.01) ,G09C 1/00 (2006.01)
Description not available in lang arDescription not available in lang arDescription not available in lang ar
المودعون:
SECURE-IC SAS [FR/FR]; 15, rue Claude Chappe ZAC des Champs Blancs 35510 Cesson-Sévigné, FR
المخترعون:
DAFALI, Rachid; FR
DANGER, Jean-Luc; FR
GUILLEY, Sylvain; FR
LOZAC'H, Florent; FR
الوكيل:
HNICH-GASRI, Naïma; FR
بيانات الأولوية:
15306063.701.07.2015EP
العنوان (EN) EMBEDDED TEST CIRCUIT FOR PHYSICALLY UNCLONABLE FUNCTION
(FR) CIRCUIT D'ESSAI INCORPORÉ POUR UNE FONCTION PHYSIQUEMENT NON CLONABLE
الملخص:
(EN) There is disclosed a silicon integrated circuit comprising a Physically Unclonable Function and an online or embedded test circuit, said online test circuit comprising one or more circuit parts being physically adjacent to said PUF and said one or more circuits embodying one or more tests which can be performed to determine one or more quality properties of said PUF or otherwise characterize it. Different tests with specific associated method steps are described.
(FR) L’invention concerne un circuit intégré au silicium comprenant une fonction physiquement non clonable (PUF) et un circuit d'essai en ligne ou incorporé, ledit circuit d'essai en ligne comprenant une ou plusieurs partie(s) de circuit qui est/sont physiquement adjacente(s) à ladite PUF et ledit ou lesdits circuit(s) incorporant un ou plusieurs essai(s) qui peut/peuvent être réalisé(s) pour déterminer une ou plusieurs propriété(s) de qualité de ladite PUF ou autrement la caractériser. Différents essais ayant des étapes de procédé associé spécifiques sont décrits.
front page image
الدول المعيّنة: AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JP, KE, KG, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
المنظمة الإقليمية الأفريقية للملكية الفكرية (الأريبو) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
المكتب الأوروبي الآسيوي للبراءات (EAPO) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
المكتب الأوروبي للبراءات (EPO) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
المنظمة الأفريقية للملكية الفكرية (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
لغة النشر: الإنكليزية (EN)
لغة الإيداع: الإنكليزية (EN)
:نشرت أيضا باسم
KR1020180050276US20180183613CN108028757