البحث في مجموعات البراءات الدولية والوطنية
بعض محتويات هذا الطلب غير متوفر حاليا.
إذا استمر الوضع، يرجى الاتصال بنا علىتعليق وبيانات الاتصال
1. (US20080226020) Direct measuring and correction of scatter for CT

المكتب : الولايات المتحدة الأمريكية
رقم الطلب: 12065614 تاريخ الطلب: 01.09.2006
رقم النشر: 20080226020 تاريخ النشر: 18.09.2008
رقم التسليم: 7778384 تاريخ التسليم: 17.08.2010
نوع النشر: B2
الطلب الدولي السابق المودع بناء على معاهدة التعاون بشأن البراءات: رقم الطلب:IB06053054 ؛ رقم النشر: انقر لعرض البيانات
التصنيف الدولي للبراءات:
A61B 6/00
G01N 23/00
G21K 1/00
G21K 1/12
H05G 1/00
H05G 1/60
Description not available in lang arDescription not available in lang arDescription not available in lang arDescription not available in lang arDescription not available in lang arDescription not available in lang ar
التصنيف التعاوني للبراءات:
A61B 6/032
A61B 6/027
A61B 6/4028
A61B 6/4291
A61B 6/5282
مودعي الطلبات: Koninklijke Philips Electronics N.V.
المخترعون: Proksa Roland
بيانات الأولوية: 05108406 13.09.2005 EP
الاسم: (EN) Direct measuring and correction of scatter for CT
الملخص: front page image
(EN)

Cone-beam CT scanners with large detector arrays suffer from increased scatter radiation. This radiation may cause severe image artefacts. An examination apparatus is provided which directly measures the scatter radiation and uses this measurement for a correction of the contaminated image data. The measurement is performed by utilizing a 1-dimensional anti-scatter-grid and an X-ray tube with an electronic focal spot movement. Image data is detected at a first position of a focal spot and scatter data is detected at a second position of the focal spot. The image data is corrected on the basis of the scatter data.


Also published as:
EP1926431JP2009507544CN101262819WO/2007/031898